- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 21/88 - Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
Détention brevets de la classe G01N 21/88
Brevets de cette classe: 5572
Historique des publications depuis 10 ans
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278
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349
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391
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486
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523
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622
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645
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626
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596
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484
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| 2014 | 2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| KLA-Tencor Corporation | 2581 |
284 |
| KLA Corporation | 1138 |
180 |
| FUJIFILM Corporation | 26437 |
85 |
| Hitachi High-Tech Corporation | 4260 |
76 |
| Omron Corporation | 6864 |
75 |
| The Boeing Company | 20037 |
67 |
| ASML Netherlands B.V. | 6663 |
67 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 127295 |
61 |
| Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | 28065 |
51 |
| NEC Corporation | 31901 |
50 |
| Koh Young Technology Inc. | 326 |
48 |
| General Electric Company | 24225 |
35 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 34962 |
35 |
| Boe Technology Group Co., Ltd. | 34148 |
34 |
| Canon Inc. | 36613 |
32 |
| LG Energy Solution, Ltd. | 9512 |
32 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 533 |
30 |
| KEYENCE Corporation | 356 |
30 |
| Screen Holdings Co., Ltd. | 2302 |
29 |
| KLA-Tencor Technologies Corporation | 379 |
28 |
| Autres propriétaires | 4243 |