Abrégé

There is provided a thyristor with desensitized gate sensitivity. In accordance with this, the third P-type semiconductor layer, which is connected to a gate electrode, has an impurity concentration higher than that of a second P-type semiconductor layer. A fourth P-type semiconductor layer, which is in contact with each of the second P-type semiconductor layer and the second N-type semiconductor layer, is disposed below the cathode electrode, and has an impurity concentration higher than that of the second P-type semiconductor layer.

Classes IPC  ?

• H01L 29/66 - Types de dispositifs semi-conducteurs
• H01L 29/74 - Dispositifs du type thyristor, p.ex. avec un fonctionnement par régénération à quatre zones
• H01L 29/36 - Corps semi-conducteurs caractérisés par la concentration ou la distribution des impuretés

Abrégé

A wide gap semiconductor device has a wide gap semiconductor layer 10; and a metal electrode 20 disposed on the wide gap semiconductor layer 10. The metal electrode 20 has a monocrystalline layer 21 having a hexagonal close-packed (HCP) structure in an interface region between the metal electrode 20 and the wide gap semiconductor layer 10. The monocrystalline layer 21 has a specific element-containing region 22 containing O, S, P or Se.

Classes IPC  ?

• H01L 29/872 - Diodes Schottky
• H01L 29/47 - Electrodes à barrière de Schottky

Abrégé

The semiconductor device includes a mesa diode structure(20) and a protective layer(17b). The mesa diode structure includes, from bottom to top, a P-type semiconductor layer(11), a first N-type semiconductor layer(12), and a second N-type semiconductor layer(13) having a higher impurity concentration than the first N-type semiconductor layer. The protective layer is arranged on a side wall around the mesa diode structure seen in a plane. Specifically, the protective layer is arranged on an upper side surface(11c) of the P-type semiconductor layer and on side surfaces(12a,13a) of the first N-type semiconductor layer and the second N-type semiconductor layer, but is not arranged on a lower side surface of the P-type semiconductor layer. A bevel angle(30) of a PN junction plane between the P-type semiconductor layer and the first N-type semiconductor layer to the upper side surface of the P-type semiconductor layer is set to 85 to 120 degrees.

Classes IPC  ?

• H01L 29/861 - Diodes
• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
• H01L 29/45 - Electrodes à contact ohmique
• H01L 21/285 - Dépôt de matériaux conducteurs ou isolants pour les électrodes à partir d'un gaz ou d'une vapeur, p.ex. condensation
• H01L 21/304 - Traitement mécanique, p.ex. meulage, polissage, coupe
• H01L 21/311 - Gravure des couches isolantes
• H01L 21/56 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements
• H01L 21/78 - Fabrication ou traitement de dispositifs consistant en une pluralité de composants à l'état solide ou de circuits intégrés formés dans ou sur un substrat commun avec une division ultérieure du substrat en plusieurs dispositifs individuels
• H01L 29/66 - Types de dispositifs semi-conducteurs

Abrégé

To arrange an auxiliary member (2) having a greater absorption rate of laser light (LL) than a plurality of members (1) to be joined to each other so as to face a boundary exposed surface (12) of the plurality of members to be joined where a boundary (11) of the plurality of members to be joined is exposed, to melt the auxiliary member by applying laser light to the auxiliary member, to shift a boundary portion (13) in a state where laser light is easily absorbed by increasing a temperature of the boundary portion of the plurality of members to be joined by a melted portion (23) of the auxiliary member, and to weld a plurality of members to be joined by applying laser light to the boundary portion and melting the boundary portion.

Classes IPC  ?

• B23K 26/18 - Travail par rayon laser, p.ex. soudage, découpage ou perçage  utilisant des couches absorbantes sur la pièce à travailler, p.ex. afin de marquer ou de protéger
• B23K 26/21 - Assemblage par soudage

Abrégé

A wide gap semiconductor device has: a wide gap semiconductor layer; and a metal layer 20 provided on the wide gap semiconductor layer. The metal layer 20 has a single crystal layer 21 in an interface region at an interface with the wide gap semiconductor layer. When it is assumed that a lattice constant, in an equilibrium state, of a metal constituting the metal layer 20 is L, the single crystal layer 21 in the interface region includes a first region in which a lattice constant L1 is smaller than L by 1.5% to 8%.

Classes IPC  ?

• H01L 29/47 - Electrodes à barrière de Schottky
• H01L 29/16 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les matériaux dont ils sont constitués comprenant, mis à part les matériaux de dopage ou autres impuretés, seulement des éléments du groupe IV de la classification périodique, sous forme non combinée
• H01L 29/04 - Corps semi-conducteurs caractérisés par leur structure cristalline, p.ex. polycristalline, cubique ou à orientation particulière des plans cristallins
• H01L 29/872 - Diodes Schottky
• H01L 21/04 - Fabrication ou traitement des dispositifs à semi-conducteurs ou de leurs parties constitutives les dispositifs présentant au moins une barrière de potentiel ou une barrière de surface, p.ex. une jonction PN, une région d'appauvrissement, ou une région de concentration de porteurs de charges
• H01L 29/66 - Types de dispositifs semi-conducteurs

Abrégé

A semiconductor device includes: an insulating substrate; a first conductor portion and a second conductor portion that are formed on the insulating substrate; a semiconductor element disposed on the first conductor portion; a first terminal having a flat plate-shape that is connected to a first electrode of the semiconductor element; a second terminal having a flat plate-shape that is connected to the first conductor portion; and a sealing resin that seals the insulating substrate, the first conductor portion, the second conductor portion, and the semiconductor element. Each of the first terminal and the second terminal includes: an inner terminal portion disposed inside the sealing resin; and an outer terminal portion disposed in a state of being exposed to an exterior of the sealing resin, and a female thread portion is provided in the outer terminal portion of each of the first terminal and the second terminal.

Classes IPC  ?

• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 23/498 - Connexions électriques sur des substrats isolants
• H01L 23/18 - Matériaux de remplissage caractérisés par le matériau ou par ses propriétes physiques ou chimiques, ou par sa disposition à l'intérieur du dispositif complet

Abrégé

A semiconductor device includes: an insulating substrate; a first conductor portion and a second conductor portion that are formed on the insulating substrate; a semiconductor element disposed on the first conductor portion; a first terminal that is connected to a first electrode of the semiconductor element; a second terminal that is connected to the first conductor portion; a connection member electrically connecting a control electrode of the semiconductor element and the second conductor portion to each other; a support member that is disposed at a predetermined distance from the second conductor portion; a pin terminal having that is supported in a state of being inserted through the support member and connected to the second conductor portion; and a sealing resin that seals the insulating substrate, the first conductor portion, the second conductor portion, the semiconductor element, the connection member, and the support member.

Classes IPC  ?

• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 23/498 - Connexions électriques sur des substrats isolants
• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition

Abrégé

A semiconductor device includes: plural conductor portions formed on an insulating substrate; a semiconductor element disposed on one of the plural conductor portions on the insulating substrate; a support member that is disposed at a predetermined distance from one of the plural conductor portions on the insulating substrate; a columnar pin terminal that is supported by the support member and is connected to the one of the plural conductor portions on the insulating substrate from which the support member is disposed at the predetermined distance; and a sealing resin that seals the insulating substrate, the plural conductor portions, the semiconductor element, and the support member. The support member has a through-hole having a polygonal shape and penetrating in a plate thickness direction of the support member, and the pin terminal is supported by the support member in a state in which the pin terminal is inserted through the through-hole.

Classes IPC  ?

• H01L 23/498 - Connexions électriques sur des substrats isolants
• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition

Abrégé

A terminal member connected to a connection target portion includes: a bent portion bent toward the connection target portion; and a tip connection portion provided at a tip part of the bent portion, in which the tip connection portion is connected to the connection target portion via a conductive bonding material.

Classes IPC  ?

• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
• H01L 23/492 - Embases ou plaques

Abrégé

Provided is a control circuit which can discharge a charge stored in an X capacitor with certainty even when an alternating current input voltage largely fluctuates. The control circuit for controlling a discharge of an X capacitor C100 connected between power source lines AC1 and AC2 having different polarities of an alternating current of an AC-DC convertor which receives inputting of the alternating current, converts the alternating current into a direct current, and outputs the direct current wherein the control circuit detects a change state of a voltage of the X capacitor C100, and controls the discharge such that a charge stored in the X capacitor C100 is discharged based on the change state.

Classes IPC  ?

• H02J 7/00 - Circuits pour la charge ou la dépolarisation des batteries ou pour alimenter des charges par des batteries
• H02J 7/34 - Fonctionnement en parallèle, dans des réseaux, de batteries avec d'autres sources à courant continu, p.ex. batterie tampon

Abrégé

An electronic device includes: a substrate at which an electronic component is mounted; and a resin case configured to accommodate the substrate internally, in which: the case has an attachment portion configured to attach the case to a flat plate-shaped fixing portion of a fixture target by the fixing portion being inserted into the attachment portion and the attachment portion engaging with the fixing portion; the attachment portion has a first pressing portion having a convex portion that is inserted into a concave portion of the inserted fixing portion, and a pair of second pressing portions that hold between them respective side faces of the inserted fixing portion; and leading end sides of the pair of second pressing portions abut on the inserted fixing portion and are resiliently deformed in directions away from each other, holding between them the respective side faces of the fixing portion in a state in which the leading end sides have been resiliently deformed.

Classes IPC  ?

• H05K 7/00 - CIRCUITS IMPRIMÉS; ENVELOPPES OU DÉTAILS DE RÉALISATION D'APPAREILS ÉLECTRIQUES; FABRICATION D'ENSEMBLES DE COMPOSANTS ÉLECTRIQUES - Détails de construction communs à différents types d'appareils électriques
• H05K 7/14 - Montage de la structure de support dans l'enveloppe, sur cadre ou sur bâti
• H05K 5/02 - Enveloppes, coffrets ou tiroirs pour appareils électriques - Détails

Abrégé

A semiconductor device includes: a semiconductor base body including: a p-type substrate; and an n-type first semiconductor layer; a first electrode; a second electrode; an isolation film; an insulation film; and a third electrode disposed over the insulation film. The first electrode is electrically connected to a first circuit C1 that is connected to a first power source Vin. The second electrode is electrically connected to a second circuit C2 that is connected to a second power source Vcc. The semiconductor base body further includes a p-type back gate region that is formed in at least a region of the semiconductor base body that faces the third electrode by way of the insulation film with a depth that allows the back gate region to reach the substrate. A dopant concentration of the back gate region falls within a range of 1×1010 cm−3 to 1×1015 cm−3.

Classes IPC  ?

• H03K 17/687 - Commutation ou ouverture de porte électronique, c. à d. par d'autres moyens que la fermeture et l'ouverture de contacts caractérisée par l'utilisation de composants spécifiés par l'utilisation, comme éléments actifs, de dispositifs à semi-conducteurs les dispositifs étant des transistors à effet de champ
• H03K 17/30 - Modifications pour fournir un seuil prédéterminé avant commutation

Abrégé

A MOSFET includes: a semiconductor base substrate having an n-type column region and a p-type column region, the n-type column region and the p-type column region forming a super junction structure; and a gate electrode formed by way of a gate insulation film. Assuming a region of the semiconductor base substrate which provides a main operation of the MOSFET as an active region, a region of the semiconductor base substrate maintaining a withstand voltage of the MOSFET as an outer peripheral region, and a region of the semiconductor base substrate disposed between the active region and the outer peripheral region as an active connecting region, out of the active region, the active connecting region, and the outer peripheral region of the semiconductor base substrate, the crystal defects are formed only in the active region and the active connecting region.

Classes IPC  ?

• H01L 29/78 - Transistors à effet de champ l'effet de champ étant produit par une porte isolée
• H01L 29/06 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices
• H01L 29/32 - Corps semi-conducteurs ayant des surfaces polies ou rugueuses les défectuosités étant à l'intérieur du corps semi-conducteur
• H01L 29/66 - Types de dispositifs semi-conducteurs

Abrégé

A semiconductor device according to the present invention includes: a circuit board; a semiconductor element having a main electrode; a metal frame; and a metal plate having a flat plate shape, the metal plate being disposed between the metal frame and the main electrode, wherein the metal plate and a conductive bonding material, form a stress relaxation structure which relaxes a stress applied to metal plate and the conductive bonding material, disposed between the metal frame and the semiconductor element, and the stress relaxation structure is configured such that a thickness of the metal plate is smaller than a thickness of the metal frame, and at least one convex portion is formed on the metal plate at a position which corresponds to the main electrode. The semiconductor device according to the present invention can relax a stress applied to a conductive bonding material between a semiconductor element and a metal frame even when a relatively thick metal frame is used.

Classes IPC  ?

• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide

Abrégé

A semiconductor apparatus according to the present invention is a semiconductor apparatus on which a plurality of external terminals are disposed. The semiconductor apparatus includes: a first lead portions having die pads, first outer leads and first inner leads; chips; second lead portions having second outer leads and second inner lead; and a resin. On at least one of the first inner leads, the second inner leads and the die pads, a terminal temperature equalizing structure which restricts a heat transfer amount of heat transferred from the chips to predetermined external terminals, and equalizes respective terminal temperatures of a plurality of external terminals is formed. A semiconductor apparatus according to the present invention is a semiconductor apparatus on which a plurality of external terminals are disposed. The semiconductor apparatus includes: a first lead portions having die pads, first outer leads and first inner leads; chips; second lead portions having second outer leads and second inner lead; and a resin. On at least one of the first inner leads, the second inner leads and the die pads, a terminal temperature equalizing structure which restricts a heat transfer amount of heat transferred from the chips to predetermined external terminals, and equalizes respective terminal temperatures of a plurality of external terminals is formed. According to the semiconductor apparatus of the present invention, it is possible to prevent specific external terminals from becoming extremely high temperature when the semiconductor apparatus is mounted.

Classes IPC  ?

• H01L 23/495 - Cadres conducteurs

Abrégé

Provided is a semiconductor device in which a snubber-circuit is incorporated and can realize downsizing of a power conversion circuit into which the semiconductor device is assembled, and is flexibly applicable to various electric equipment. A semiconductor device includes a semiconductor substrate, a source electrode, a drain electrode, a plurality of trenches, a plurality of first electrodes disposed in a plurality of trenches by way of gate insulation films formed on side walls of the plurality of respective trenches, a plurality of second electrodes disposed above the plurality of first electrodes in a state where the second electrodes are spaced apart from the first electrodes, a plurality of first insulation regions, and a plurality of second insulation regions. The trenches, the first electrodes and the second electrodes are formed in stripes as viewed in a plan view. At least one of the plurality of second electrodes is connected to the drain electrode.

Classes IPC  ?

• H01L 29/78 - Transistors à effet de champ l'effet de champ étant produit par une porte isolée
• H02M 1/34 - Circuits d'amortissement
• H01L 29/40 - Electrodes
• H01L 29/423 - Electrodes caractérisées par leur forme, leurs dimensions relatives ou leur disposition relative ne transportant pas le courant à redresser, à amplifier ou à commuter
• H01L 29/66 - Types de dispositifs semi-conducteurs
• H01L 29/06 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices

Abrégé

A wide gap semiconductor device has: a drift layer using wide gap semiconductor material being a first conductivity type; a well region being a second conductivity type and provided in the drift layer; a source region provided in the well region; a gate contact region provided in the well region and electrically connected to a gate pad; and a Zener diode region provided in the well region and provided between the source region and the gate contact region.

Classes IPC  ?

• H01L 29/78 - Transistors à effet de champ l'effet de champ étant produit par une porte isolée
• H01L 29/08 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices avec des régions semi-conductrices connectées à une électrode transportant le courant à redresser, amplifier ou commuter, cette électrode faisant partie d'un dispositif à semi-conducteur qui comporte trois électrodes ou plus

Abrégé

An electronic device has a primary coil 10; a secondary coil 20 disposed to face the primary coil 10; a coil sealing part 50 sealing the primary coil 10 and the secondary coil 20 and being made of sealing resin; a primary-side electronic element 110 electrically connected to the primary coil 10; and a secondary-side electronic element 210 electrically connected to the secondary coil 20. The primary-side electronic element 110 is provided on a primary-side extension part 60 extending from the primary coil 10 to an outside of the coil sealing part 50, or the secondary-side electronic element 210 is provided on a secondary-side extension part 70 extending from the secondary coil 20 to an outside of the coil sealing part 50.

Classes IPC  ?

• H01F 27/32 - Isolation des bobines, des enroulements, ou de leurs éléments

Abrégé

b is provided and passes through a space of the secondary coil 20.

Classes IPC  ?

• H01F 27/30 - Fixation ou serrage de bobines, d'enroulements ou de parties de ceux-ci entre eux; Fixation ou montage des bobines ou enroulements sur le noyau, dans l'enveloppe ou sur un autre support
• H01F 30/06 - Transformateurs fixes non couverts par le groupe caractérisés par la structure

Abrégé

An electronic device has a primary coil 10; a secondary coil 20 disposed to face the primary coil 10; a coil sealing part 50 sealing the primary coil 10 and the secondary coil 20 and being made of sealing resin; a primary-side sealing part 150 sealing a primary-side electronic element 110 electrically connected to the primary coil 10; and a secondary-side sealing part 250 sealing a secondary-side electronic element 210 electrically connected to the secondary coil 20.

Classes IPC  ?

• H01F 27/32 - Isolation des bobines, des enroulements, ou de leurs éléments
• H01F 27/29 - Bornes; Aménagements de prises
• H01F 27/22 - Refroidissement par conduction de chaleur à travers des éléments de remplissage solides ou en poudre

Abrégé

A magnetic component has a primary coil 10; a secondary coil 20 disposed to face the primary coil 10; a core 500 which passes through the primary coil 10 and the secondary coil 20; and a coil sealing part 50 which seals at least the primary coil 10 and the secondary coil 20, and a part or whole of region between the primary coil 10 and the secondary coil 20 and the core 500.

Classes IPC  ?

• H01F 27/28 - Bobines; Enroulements; Connexions conductrices
• H01F 27/32 - Isolation des bobines, des enroulements, ou de leurs éléments
• H01F 30/10 - Transformateurs monophasés

Abrégé

A semiconductor switch control circuit includes: a pulse signal generating part configured to generate a pulse signal which becomes a time reference for performing an ON/OFF control of a semiconductor switch; a drive current generating part configured to generate a drive current based on the pulse signal which the pulse signal generating part generates and to supply the drive current to a gate electrode of the semiconductor switch; a current detecting part configured to detect a drain current or a source current of the semiconductor switch; and a drive current control part configured to have a function of controlling a drive current which the drive current generating part generates based on the pulse signal which the pulse signal generating part generates and the current which the current detecting part detects.

Classes IPC  ?

• H03K 17/08 - Modifications pour protéger le circuit de commutation contre la surintensité ou la surtension
• H02M 1/08 - Circuits spécialement adaptés à la production d'une tension de commande pour les dispositifs à semi-conducteurs incorporés dans des convertisseurs statiques
• H02M 1/00 - APPAREILS POUR LA TRANSFORMATION DE COURANT ALTERNATIF EN COURANT ALTERNATIF, DE COURANT ALTERNATIF EN COURANT CONTINU OU VICE VERSA OU DE COURANT CONTINU EN COURANT CONTINU ET EMPLOYÉS AVEC LES RÉSEAUX DE DISTRIBUTION D'ÉNERGIE OU DES SYSTÈMES D'ALI; TRANSFORMATION D'UNE PUISSANCE D'ENTRÉE EN COURANT CONTINU OU COURANT ALTERNATIF EN UNE PUISSANCE DE SORTIE DE CHOC; LEUR COMMANDE OU RÉGULATION - Détails d'appareils pour transformation
• H03K 17/041 - Modifications pour accélérer la commutation sans réaction du circuit de sortie vers le circuit de commande
• H03K 17/082 - Modifications pour protéger le circuit de commutation contre la surintensité ou la surtension par réaction du circuit de sortie vers le circuit de commande
• H03K 17/16 - Modifications pour éliminer les tensions ou courants parasites
• H03K 19/01 - Modifications pour accélérer la commutation

Abrégé

A semiconductor device includes: an inner substrate on which a semiconductor chip is mounted, and has a surface on which terminals including electric path terminals are formed; a lead frame which has a chip connecting electrode portion which is electrically connected to a surface of the semiconductor chip via a conductive bonding member, substrate connecting electrode portions which are electrically connected to the electric path terminals of the inner substrate, and horizontal surface support portions which bulge to the outside from the chip connecting electrode portion or the substrate connecting electrode portions; and pin terminals which are mounted upright over the inner substrate in a direction perpendicular to flat surfaces of the substrate connecting electrode portions of the lead frame, wherein the horizontal surface support portions bulge to the outside of the inner substrate.

Classes IPC  ?

• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
• H01L 23/053 - Conteneurs; Scellements caractérisés par la forme le conteneur étant une structure creuse ayant une base isolante qui sert de support pour le corps semi-conducteur
• H01L 23/495 - Cadres conducteurs

Abrégé

A semiconductor device including a substrate; a chip on which a surface electrode is formed; and a lead. The lead includes a first electrode connecting portion disposed on the surface electrode and electrically connected to the surface electrode of the chip via a conductive bonding material; a second electrode connecting portion electrically connected to an electrode portion of a wiring pattern. A lead connected to the first electrode connecting portion and the second electrode connecting portion. The lead further has a thermal shrinking stress equalizing structure on a portion of an outer periphery of the first electrode connecting portion. The lead is configured to make a thermal shrinking stress applied to a conductive bonding material between the first electrode connecting portion and the surface electrode equal.

Classes IPC  ?

• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide

Abrégé

An electronic module has a first substrate 11, a first electronic element 13, a second electronic element 23, a second substrate 21, a first terminal part 110 provided on a side of the first substrate 11 and a second terminal part 120 provided on a side of the second substrate 21. The first terminal part 110 has a first surface direction extending part 114 and a first normal direction extending part 113 extending toward one side or the other side. The second terminal part 120 has a second surface direction extending part 124 and a second normal direction extending part 123 extending toward one side or the other side. The second surface direction extending part 124 is provided on one side of the first surface direction extending part 114, and the first surface direction extending part 114 and the second surface direction extending part 124 overlap one another in a surface direction.

Classes IPC  ?

• H01L 23/498 - Connexions électriques sur des substrats isolants
• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 23/538 - Dispositions pour conduire le courant électrique à l'intérieur du dispositif pendant son fonctionnement, d'un composant à un autre la structure d'interconnexion entre une pluralité de puces semi-conductrices se trouvant au-dessus ou à l'intérieur de substrats isolants
• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
• H01L 25/07 - Ensembles consistant en une pluralité de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide les dispositifs étant tous d'un type prévu dans le même sous-groupe des groupes , ou dans une seule sous-classe de , , p.ex. ensembles de diodes redresseuses les dispositifs n'ayant pas de conteneurs séparés les dispositifs étant d'un type prévu dans le groupe

Abrégé

An electronic module has a sealing part 90; a rear surface-exposed conductor 10, 20, 30 having a rear surface-exposed part 12, 22, 32 whose rear surface is exposed; a rear surface-unexposed conductor 40, 50 whose rear surface is not exposed; an electronic element 15, 25, which is provided in the sealing part 90 and provided on a front surface of the rear surface-exposed conductor 40, 50; a first connector 60 for electrically connecting the electronic element 15, 25 with the rear surface-exposed conductor 10, 20, 30; and a second connector 70 for electrically connecting the electronic element 15, 25 with the rear surface-unexposed conductor 40, 50. A thickness T1 of the first connector 60 is thicker than a thickness T2 of the second connector 70.

Classes IPC  ?

• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 25/07 - Ensembles consistant en une pluralité de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide les dispositifs étant tous d'un type prévu dans le même sous-groupe des groupes , ou dans une seule sous-classe de , , p.ex. ensembles de diodes redresseuses les dispositifs n'ayant pas de conteneurs séparés les dispositifs étant d'un type prévu dans le groupe

Abrégé

An electronic module has a first electronic unit having a first substrate 11, a first conductor layer 12 provided on one side of the first substrate 11, and a first electronic element 13 provided on one side of the first conductor layer 12, a first connection body 60 provided on one side of the first electronic element 13, and a second electronic unit having a second electronic element 23 provided on one side of the first connection body 60. The first connection body 60 has a first head part 61 and a plurality of support parts 65 extending from the first head part 61. The electronic module is characterized by that the support part 65 abuts on the first substrate 11 or the first conductor layer 12.

Classes IPC  ?

• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 21/44 - Fabrication des électrodes sur les corps semi-conducteurs par emploi de procédés ou d'appareils non couverts par les groupes
• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
• H01L 25/07 - Ensembles consistant en une pluralité de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide les dispositifs étant tous d'un type prévu dans le même sous-groupe des groupes , ou dans une seule sous-classe de , , p.ex. ensembles de diodes redresseuses les dispositifs n'ayant pas de conteneurs séparés les dispositifs étant d'un type prévu dans le groupe
• H01L 25/18 - Ensembles consistant en une pluralité de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide les dispositifs étant de types prévus dans plusieurs sous-groupes différents du même groupe principal des groupes , ou dans une seule sous-classe de ,

Abrégé

A control unit repeats the series of processing of comparing a first phase representing a phase of the first reference sine wave and being a phase included in the first synchronization signal, with a second phase that is the phase of the second reference sine wave when the first synchronization signal is received when the communication unit receives the first synchronization signal from the other inverter generator, changing a phase change amount per unit time of the second reference sine wave in accordance with the comparison result, continuing to update the phase of the second reference sine wave so that the phase of the second reference sine wave changes with a phase change amount per unit time after the change with reference to the first phase until the next first synchronizing signal is received from the other inverter generator.

Classes IPC  ?

• H02J 3/46 - Dispositions pour l’alimentation en parallèle d’un seul réseau, par plusieurs générateurs, convertisseurs ou transformateurs contrôlant la répartition de puissance entre les générateurs, convertisseurs ou transformateurs
• H02J 3/40 - Synchronisation d'un générateur pour sa connexion à un réseau ou à un autre générateur
• H02J 3/42 - Synchronisation d'un générateur pour sa connexion à un réseau ou à un autre générateur avec connexion automatique en parallèle quand le synchronisme est obtenu
• H02M 7/493 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant continu en une puissance de sortie en courant alternatif sans possibilité de réversibilité par convertisseurs statiques utilisant des tubes à décharge avec électrode de commande ou des dispositifs à semi-conducteurs avec électrode de commande les convertisseurs statiques étant agencés pour le fonctionnement en parallèle

Abrégé

A method of manufacturing a chip module comprises a step of disposing a first electronic element 13 on a first jig 500, a step of disposing a first connector 60 on the first electronic element 13 via a conductive adhesive 5, a step of disposing a second electronic element 23 on the first connector 60 via a conductive adhesive 5, a step of disposing a second connector 70 on a second jig 550, a step of reversing the second jig in a state where the second connector 70 is fixed to the second jig 550 and disposing the second connector 70 on the second electronic element 23 via a conductive adhesive 5, and a step of curing the conductive adhesives 5.

Classes IPC  ?

• H01L 21/44 - Fabrication des électrodes sur les corps semi-conducteurs par emploi de procédés ou d'appareils non couverts par les groupes
• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
• H01L 25/07 - Ensembles consistant en une pluralité de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide les dispositifs étant tous d'un type prévu dans le même sous-groupe des groupes , ou dans une seule sous-classe de , , p.ex. ensembles de diodes redresseuses les dispositifs n'ayant pas de conteneurs séparés les dispositifs étant d'un type prévu dans le groupe

Abrégé

An electronic module has a first substrate 11, a first electronic element 13 provided on one side of the first substrate 11, a first connection body 60 provided on one side of the first electronic element 13, a second electronic element 23 provided on one side of the first connection body 60, a second substrate 21 provided on one side of the second electronic element 23, and an abutment body 250 that abuts on a face on one side of the second electronic element 23 and is capable of imparting a force toward one side with respect to the second substrate 21.

Classes IPC  ?

• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 25/07 - Ensembles consistant en une pluralité de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide les dispositifs étant tous d'un type prévu dans le même sous-groupe des groupes , ou dans une seule sous-classe de , , p.ex. ensembles de diodes redresseuses les dispositifs n'ayant pas de conteneurs séparés les dispositifs étant d'un type prévu dans le groupe

Abrégé

An electronic device includes a board having a mounting surface for an electronic component, a case having an opening for insertion of the board into the case and configured to house the board inserted through the opening, and a cover fixed to the case so as to close the opening. The board also has at least one deformable device formed on an end side of the board and configured to be elastically deformable in a direction orthogonal to the mounting surface. The deformable device comes into contact with the case or the cover in a state of being elastically deformed to hold the board in a fixed state in a storage space formed through fixation of the cover to the case when the board is housed in the storage space.

Classes IPC  ?

• H05K 1/14 - Association structurale de plusieurs circuits imprimés
• H05K 7/14 - Montage de la structure de support dans l'enveloppe, sur cadre ou sur bâti
• B60R 16/02 - Circuits électriques ou circuits de fluides spécialement adaptés aux véhicules et non prévus ailleurs; Agencement des éléments des circuits électriques ou des circuits de fluides spécialement adapté aux véhicules et non prévu ailleurs électriques

Abrégé

A semiconductor module is configured to convert a direct current to a three-phase alternating current, and to supply the three-phase alternating current to a three-phase motor to drive the three-phase motor, wherein a first gap M1 between side surfaces of the first and the second central wiring lines, which side surfaces are close to each other and face each other, and a second gap M2 between side surfaces of the second and the third central wiring lines, which side surfaces are close to each other and face each other, are bent on the top surface of the substrate.

Classes IPC  ?

• H05K 7/20 - Modifications en vue de faciliter la réfrigération, l'aération ou le chauffage
• H02M 7/00 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant alternatif en une puissance de sortie en courant continu; Transformation d'une puissance d'entrée en courant continu en une puissance de sortie en courant alternatif
• H02M 7/5387 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant continu en une puissance de sortie en courant alternatif sans possibilité de réversibilité par convertisseurs statiques utilisant des tubes à décharge avec électrode de commande ou des dispositifs à semi-conducteurs avec électrode de commande utilisant des dispositifs du type triode ou transistor exigeant l'application continue d'un signal de commande utilisant uniquement des dispositifs à semi-conducteurs, p.ex. onduleurs à impulsions à un seul commutateur dans une configuration en pont
• H02P 27/06 - Dispositions ou procédés pour la commande de moteurs à courant alternatif caractérisés par le type de tension d'alimentation utilisant une tension d’alimentation à fréquence variable, p.ex. tension d’alimentation d’onduleurs ou de convertisseurs utilisant des convertisseurs de courant continu en courant alternatif ou des onduleurs

Abrégé

A semiconductor module is configured to convert a direct current to a three-phase alternating current, and to supply the three-phase alternating current to a three-phase motor to drive the three-phase motor, wherein the first ground terminal GND1, the second ground terminal GND2, and the third ground terminal GND3 are arranged along the second side B2 to be separated from one another and electrically isolated from one another.

Classes IPC  ?

• H02K 11/40 - Association structurelle à des dispositifs de mise à la terre
• H02K 11/25 - Dispositifs pour détecter la température ou actionnés par des valeurs de cette variable
• H02K 11/33 - Circuits d’entraînement, p.ex. circuits électroniques de puissance
• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
• H01L 23/34 - Dispositions pour le refroidissement, le chauffage, la ventilation ou la compensation de la température
• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H02M 7/00 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant alternatif en une puissance de sortie en courant continu; Transformation d'une puissance d'entrée en courant continu en une puissance de sortie en courant alternatif
• H02M 7/48 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant continu en une puissance de sortie en courant alternatif sans possibilité de réversibilité par convertisseurs statiques utilisant des tubes à décharge avec électrode de commande ou des dispositifs à semi-conducteurs avec électrode de commande

Abrégé

A semiconductor module is configured to convert a direct current to a three-phase alternating current, and to supply the three-phase alternating current to a three-phase motor to drive the three-phase motor, wherein the first to the third control signal terminals Q1, Q2, and Q3 are arranged in a direction along which the first side B1 extends in a manner that one ends of the first to the third control signal terminals are in the vicinity of the first side B1 of the substrate B, and wherein the fourth to the sixth control signal terminals Q4, Q5, and Q6 are arranged in a direction along which the second side B2 extends in a manner that one ends of the fourth to the sixth control signal terminals are in the vicinity of the second side B2 of the substrate B.

Classes IPC  ?

• H01L 23/48 - Dispositions pour conduire le courant électrique vers le ou hors du corps à l'état solide pendant son fonctionnement, p.ex. fils de connexion ou bornes
• H01L 23/498 - Connexions électriques sur des substrats isolants
• H02M 7/00 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant alternatif en une puissance de sortie en courant continu; Transformation d'une puissance d'entrée en courant continu en une puissance de sortie en courant alternatif
• H02M 7/5387 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant continu en une puissance de sortie en courant alternatif sans possibilité de réversibilité par convertisseurs statiques utilisant des tubes à décharge avec électrode de commande ou des dispositifs à semi-conducteurs avec électrode de commande utilisant des dispositifs du type triode ou transistor exigeant l'application continue d'un signal de commande utilisant uniquement des dispositifs à semi-conducteurs, p.ex. onduleurs à impulsions à un seul commutateur dans une configuration en pont
• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
• H02P 27/06 - Dispositions ou procédés pour la commande de moteurs à courant alternatif caractérisés par le type de tension d'alimentation utilisant une tension d’alimentation à fréquence variable, p.ex. tension d’alimentation d’onduleurs ou de convertisseurs utilisant des convertisseurs de courant continu en courant alternatif ou des onduleurs
• H01L 23/528 - Configuration de la structure d'interconnexion

Abrégé

A semiconductor module includes: a semiconductor substrate; a switching element having a first electrode, a second electrode, and a gate electrode, and the switching element configured to perform turning on/off between the first electrode and the second electrode in response to applying of a predetermined gate voltage to the gate electrode; a control circuit part configured to control the gate voltage; and a current detection element configured to detect a current which flows between the first electrode and the second electrode of the switching element, wherein the switching element, the control circuit part, and the current detection element are mounted on the semiconductor substrate, and the current detection element is formed of a Rogowski coil.

Classes IPC  ?

• H03K 17/16 - Modifications pour éliminer les tensions ou courants parasites
• H01L 25/16 - Ensembles consistant en une pluralité de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide les dispositifs étant de types couverts par plusieurs des groupes principaux , ou dans une seule sous-classe de , , p.ex. circuit hybrides
• G01R 15/18 - Adaptations fournissant une isolation en tension ou en courant, p.ex. adaptations pour les réseaux à haute tension ou à courant fort utilisant des dispositifs inductifs, p.ex. des transformateurs
• H01F 38/28 - Transformateurs d'intensité
• H01L 29/20 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les matériaux dont ils sont constitués comprenant, à part les matériaux de dopage ou autres impuretés, uniquement des composés AIIIBV

Abrégé

A switching element control circuit includes: a third electrode voltage control part which controls a third electrode voltage; a first electrode current detection part which detects a first electrode current which flows through the switching element; a memory part which stores information including an initial threshold voltage and an initial first electrode current, and a drain current characteristic of a threshold voltage; and a threshold voltage calculation part which calculates a threshold voltage at a time of operating the switching element based on information including the first electrode current, the initial threshold voltage, and an initial first electrode current, and information relating to the first electrode current characteristic of the threshold voltage, wherein the third electrode voltage control part controls the third electrode voltage based on a threshold voltage at the time of operating the switching element calculated by the threshold voltage calculation part.

Classes IPC  ?

• H03K 17/687 - Commutation ou ouverture de porte électronique, c. à d. par d'autres moyens que la fermeture et l'ouverture de contacts caractérisée par l'utilisation de composants spécifiés par l'utilisation, comme éléments actifs, de dispositifs à semi-conducteurs les dispositifs étant des transistors à effet de champ
• H02M 1/08 - Circuits spécialement adaptés à la production d'une tension de commande pour les dispositifs à semi-conducteurs incorporés dans des convertisseurs statiques
• H03K 17/0812 - Modifications pour protéger le circuit de commutation contre la surintensité ou la surtension sans réaction du circuit de sortie vers le circuit de commande par des dispositions prises dans le circuit de commande
• H03K 17/567 - Circuits caractérisés par l'utilisation d'au moins deux types de dispositifs à semi-conducteurs, p.ex. BIMOS, dispositifs composites tels que IGBT
• H03K 17/16 - Modifications pour éliminer les tensions ou courants parasites

Abrégé

A switching element control circuit: a third electrode voltage control part; a temperature detection part; a first electrode current detection part; a memory part which stores information including an initial threshold voltage and an operation temperature/first electrode current characteristic of the threshold voltage; and a threshold voltage calculation part which calculates a threshold voltage at the time of operating the switching element based on information including the initial threshold voltage, the operation temperature of the switching element, and a first electrode current, and information relating to an operation temperature/first electrode current characteristic of a threshold voltage, wherein the third electrode voltage control part controls the third electrode voltage based on a threshold voltage at the time of operating the switching element calculated by the threshold voltage calculation part.

Classes IPC  ?

• H03K 17/14 - Modifications pour compenser les variations de valeurs physiques, p.ex. de la température
• H02M 1/08 - Circuits spécialement adaptés à la production d'une tension de commande pour les dispositifs à semi-conducteurs incorporés dans des convertisseurs statiques
• H03K 17/16 - Modifications pour éliminer les tensions ou courants parasites

Abrégé

An electronic module has a first substrate 11; a first electronic element 13 provided on one side of the first substrate 11; a first connection body 60 provided on the one side of the first electronic element 13; a second electronic element 23 provided on the one side of the first connection body 60; and a second connection body 70 provided on the one side of the second electronic element 23. The first electronic element 13 and the second electronic element 23 do not overlap in a plane direction.

Classes IPC  ?

• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
• H01L 25/07 - Ensembles consistant en une pluralité de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide les dispositifs étant tous d'un type prévu dans le même sous-groupe des groupes , ou dans une seule sous-classe de , , p.ex. ensembles de diodes redresseuses les dispositifs n'ayant pas de conteneurs séparés les dispositifs étant d'un type prévu dans le groupe
• H01L 23/16 - Matériaux de remplissage ou pièces auxiliaires dans le conteneur, p.ex. anneaux de centrage
• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition

Abrégé

A semiconductor module includes a die pad frame; a semiconductor chip disposed in a chip region on an upper surface of the die pad frame, the semiconductor chip having an upper surface on which a first electrode is disposed and a lower surface on which a second electrode is disposed; a conductive connection member for die pad disposed between the second electrode of the semiconductor chip and the upper surface of the die pad frame, the conductive connection member for die pad electrically connecting the second electrode of the semiconductor chip and the upper surface of the die pad frame; and a sealing resin for sealing the semiconductor chip, the die pad frame, and the conductive connection member for die pad.

Classes IPC  ?

• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition

Abrégé

A semiconductor device has a first electrode 61; a second electrode 62; and a semiconductor layer 1 having a winding wire part 10 provided so as to surround a current flowing between the first electrode 61 and the second electrode 62, a winding return wire part, which is provided so as to surround the current, is connected to a terminal end part of the winding wire part 10 and returns toward a starting end part side from the terminal end part, and an integration circuit configuration part connected to the winding wire part 10 or the winding return wire part. The integration circuit configuration part has one or more of a resistance part 115, a capacitor part 125 and an operational amplifier part 135.

Classes IPC  ?

• G01R 15/18 - Adaptations fournissant une isolation en tension ou en courant, p.ex. adaptations pour les réseaux à haute tension ou à courant fort utilisant des dispositifs inductifs, p.ex. des transformateurs
• G01R 19/00 - Dispositions pour procéder aux mesures de courant ou de tension ou pour en indiquer l'existence ou le signe
• H01L 29/78 - Transistors à effet de champ l'effet de champ étant produit par une porte isolée
• H01L 27/06 - Dispositifs consistant en une pluralité de composants semi-conducteurs ou d'autres composants à l'état solide formés dans ou sur un substrat commun comprenant des éléments de circuit passif intégrés avec au moins une barrière de potentiel ou une barrière de surface le substrat étant un corps semi-conducteur comprenant une pluralité de composants individuels dans une configuration non répétitive

Abrégé

An electronic module has an electronic element 210; a connection body 250 provided on a front face of the electronic element 210; and a detection part 100 having a winding wire part 10 provided so as to surround the connection body 250, and a winding return wire part 50 connected to a terminal end part of the winding wire part 10 and returns from the terminal end part toward a starting end part.

Classes IPC  ?

• G01R 15/18 - Adaptations fournissant une isolation en tension ou en courant, p.ex. adaptations pour les réseaux à haute tension ou à courant fort utilisant des dispositifs inductifs, p.ex. des transformateurs

Abrégé

A semiconductor device has: a semiconductor substrate; a drift layer of a first conductivity type; a well region of a second conductivity type; a high-concentration region of the second conductivity type, a source region of the first conductivity type; an insulating film provided on the drift layer; a first contact metal film in contact with the source region and the high-concentration region through a first opening provided in the insulating film; and a second contact metal film formed on a surface of the first contact metal film and contacting the high-concentration region through a second opening provided in the first contact metal film; a source electrode film formed on a surface of a contact metal layer including the first contact metal film and the second contact metal film. The first contact metal film includes titanium nitride, and the second contact metal film includes titanium.

Classes IPC  ?

• H01L 29/45 - Electrodes à contact ohmique
• H01L 21/04 - Fabrication ou traitement des dispositifs à semi-conducteurs ou de leurs parties constitutives les dispositifs présentant au moins une barrière de potentiel ou une barrière de surface, p.ex. une jonction PN, une région d'appauvrissement, ou une région de concentration de porteurs de charges
• H01L 29/10 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices avec des régions semi-conductrices connectées à une électrode ne transportant pas le courant à redresser, amplifier ou commuter, cette électrode faisant partie d'un dispositif à semi-conducteur qui comporte trois électrodes ou plus
• H01L 29/16 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les matériaux dont ils sont constitués comprenant, mis à part les matériaux de dopage ou autres impuretés, seulement des éléments du groupe IV de la classification périodique, sous forme non combinée
• H01L 29/66 - Types de dispositifs semi-conducteurs
• H01L 29/78 - Transistors à effet de champ l'effet de champ étant produit par une porte isolée

Abrégé

A control circuit includes: a transistor controller that controls a voltage at a gate terminal of a field effect transistor in accordance with a difference in voltage between a source terminal and a drain terminal of the field effect transistor connected so that a body diode is in a forward direction; and a current controller that reduces an operating current for operating the transistor controller when a load connected via the source terminal of the field effect transistor is light, and increases the operating current when the load is heavy.

Classes IPC  ?

• H03K 17/16 - Modifications pour éliminer les tensions ou courants parasites
• H02M 1/00 - APPAREILS POUR LA TRANSFORMATION DE COURANT ALTERNATIF EN COURANT ALTERNATIF, DE COURANT ALTERNATIF EN COURANT CONTINU OU VICE VERSA OU DE COURANT CONTINU EN COURANT CONTINU ET EMPLOYÉS AVEC LES RÉSEAUX DE DISTRIBUTION D'ÉNERGIE OU DES SYSTÈMES D'ALI; TRANSFORMATION D'UNE PUISSANCE D'ENTRÉE EN COURANT CONTINU OU COURANT ALTERNATIF EN UNE PUISSANCE DE SORTIE DE CHOC; LEUR COMMANDE OU RÉGULATION - Détails d'appareils pour transformation
• H02M 1/08 - Circuits spécialement adaptés à la production d'une tension de commande pour les dispositifs à semi-conducteurs incorporés dans des convertisseurs statiques
• H02M 7/219 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant alternatif en une puissance de sortie en courant continu sans possibilité de réversibilité par convertisseurs statiques utilisant des tubes à décharge avec électrode de commande ou des dispositifs à semi-conducteurs avec électrode de commande utilisant des dispositifs du type triode ou transistor exigeant l'application continue d'un signal de commande utilisant uniquement des dispositifs à semi-conducteurs dans une configuration en pont
• H03K 17/30 - Modifications pour fournir un seuil prédéterminé avant commutation
• G05F 1/56 - Régulation de la tension ou de l'intensité là où la variable effectivement régulée par le dispositif de réglage final est du type continu utilisant des dispositifs à semi-conducteurs en série avec la charge comme dispositifs de réglage final
• H03K 17/687 - Commutation ou ouverture de porte électronique, c. à d. par d'autres moyens que la fermeture et l'ouverture de contacts caractérisée par l'utilisation de composants spécifiés par l'utilisation, comme éléments actifs, de dispositifs à semi-conducteurs les dispositifs étant des transistors à effet de champ
• H02M 7/21 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant alternatif en une puissance de sortie en courant continu sans possibilité de réversibilité par convertisseurs statiques utilisant des tubes à décharge avec électrode de commande ou des dispositifs à semi-conducteurs avec électrode de commande utilisant des dispositifs du type triode ou transistor exigeant l'application continue d'un signal de commande

Abrégé

An electronic module has a first substrate 11; an electronic element 13, 23 provided on one side of the first substrate 11; a sealing part 90 that seals at least the electronic element 13, 23; a connection terminal 110 electrically connected to the electronic element 13, 23 and exposed from a side surface of the sealing part 90; and a stress relaxation terminal 150, which is not electrically connected to the electronic element 13, 23, exposed from the side surface of the sealing part 90.

Classes IPC  ?

• H01L 23/538 - Dispositions pour conduire le courant électrique à l'intérieur du dispositif pendant son fonctionnement, d'un composant à un autre la structure d'interconnexion entre une pluralité de puces semi-conductrices se trouvant au-dessus ou à l'intérieur de substrats isolants
• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide

Abrégé

A power module includes a switching element, a temperature detection part which detects an operation temperature T of the switching element, a control electrode voltage control part which controls a control electrode voltage based on a threshold voltage Vth during an operation of the switching element which is calculated based on information including the operation temperature T of the switching element detected by the temperature detection part, and a switching speed control part which controls a switching speed of the switching element based on the operation temperature T of the switching element detected by the temperature detection part.

Classes IPC  ?

• H03K 17/14 - Modifications pour compenser les variations de valeurs physiques, p.ex. de la température
• H03K 17/30 - Modifications pour fournir un seuil prédéterminé avant commutation

Abrégé

A drive device includes a first gate driver circuit that controls operations of the first transistor by outputting a first control signal to a control terminal of the first transistor; a second gate driver circuit that controls operations of the second transistor so that the first transistor and the second transistor are turned on/off in a complementary manner, by outputting a second control signal to the control terminal of the second transistor; and a first charge pump circuit that applies the first negative power supply voltage to the first negative power supply wiring, by generating the first negative power supply voltage having a polarity opposite to that of the first positive power supply voltage with reference to a potential of the output terminal, based on the first control signal.

Classes IPC  ?

• H02M 1/08 - Circuits spécialement adaptés à la production d'une tension de commande pour les dispositifs à semi-conducteurs incorporés dans des convertisseurs statiques
• H02M 1/38 - Moyens pour empêcher la conduction simultanée de commutateurs
• H02M 3/07 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant continu en une puissance de sortie en courant continu sans transformation intermédiaire en courant alternatif par convertisseurs statiques utilisant des résistances ou des capacités, p.ex. diviseur de tension utilisant des capacités chargées et déchargées alternativement par des dispositifs à semi-conducteurs avec électrode de commande

Abrégé

[Problem] An object is to provide an inverter circuit that can improve the efficiency and stabilize the operation, the inverter circuit executes normal control when the output voltage rises, even when the output frequency is low, and the inverter circuit divides the normal control and regenerative control operations so that the regenerative control is executed when the output voltage drops. [Solution] When the error value is greater than or equal to the first threshold value, the control unit of the inverter circuit executes a normal control of the capacitive load, by operating the primary side switch with the secondary side switch turned off, and on the other hand, when the error value is less than the first threshold value, the control unit executes a regenerative control to the direct current power supply, by operating the secondary side switch with the primary side switch turned off.

Classes IPC  ?

• H02M 7/539 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant continu en une puissance de sortie en courant alternatif sans possibilité de réversibilité par convertisseurs statiques utilisant des tubes à décharge avec électrode de commande ou des dispositifs à semi-conducteurs avec électrode de commande utilisant des dispositifs du type triode ou transistor exigeant l'application continue d'un signal de commande utilisant uniquement des dispositifs à semi-conducteurs, p.ex. onduleurs à impulsions à un seul commutateur avec commande automatique de la forme d'onde ou de la fréquence de sortie
• H02M 1/08 - Circuits spécialement adaptés à la production d'une tension de commande pour les dispositifs à semi-conducteurs incorporés dans des convertisseurs statiques
• H02M 3/335 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant continu en une puissance de sortie en courant continu avec transformation intermédiaire en courant alternatif par convertisseurs statiques utilisant des tubes à décharge avec électrode de commande ou des dispositifs à semi-conducteurs avec électrodes de commande pour produire le courant alternatif intermédiaire utilisant des dispositifs du type triode ou transistor exigeant l'application continue d'un signal de commande utilisant uniquement des dispositifs à semi-conducteurs

Abrégé

A wide gap semiconductor device has: a drift layer 12 using a first conductivity type wide gap semiconductor material; a well region 20, being a second conductivity type and provided in the drift layer 12; a polysilicon layer 150 provided on the well region 20; an interlayer insulating film 65 provided on the polysilicon layer 150; a gate pad 120 provided on the interlayer insulating film 65; and a source pad 110 electrically connected to the polysilicon layer 150.

Classes IPC  ?

• H01L 29/49 - Electrodes du type métal-isolant-semi-conducteur
• H01L 29/16 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les matériaux dont ils sont constitués comprenant, mis à part les matériaux de dopage ou autres impuretés, seulement des éléments du groupe IV de la classification périodique, sous forme non combinée
• H01L 29/78 - Transistors à effet de champ l'effet de champ étant produit par une porte isolée

Abrégé

An electronic module includes a shunt resistor having one end that is connected to one end of a first ground wiring line and another end that is connected to another end of a second ground wiring line. Signal terminals are disposed to be close to the shunt resistor, the signal terminals including a first current detection terminal electrically connected to the one end of the shunt resistor, and a second current detection terminal disposed to be close to the shunt resistor and electrically connected to the other end of the shunt resistor. The shunt resistor is disposed to be close to a first side of a substrate along which the signal terminals are arranged.

Classes IPC  ?

• H05K 1/18 - Circuits imprimés associés structurellement à des composants électriques non imprimés
• H05K 7/20 - Modifications en vue de faciliter la réfrigération, l'aération ou le chauffage
• H05K 11/00 - Combinaisons d'un récepteur de radio ou de télévision avec un appareil remplissant une fonction principale différente
• H02M 7/00 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant alternatif en une puissance de sortie en courant continu; Transformation d'une puissance d'entrée en courant continu en une puissance de sortie en courant alternatif
• H02M 7/483 - Convertisseurs munis de sorties pouvant chacune avoir plus de deux niveaux de tension
• H02M 7/537 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant continu en une puissance de sortie en courant alternatif sans possibilité de réversibilité par convertisseurs statiques utilisant des tubes à décharge avec électrode de commande ou des dispositifs à semi-conducteurs avec électrode de commande utilisant des dispositifs du type triode ou transistor exigeant l'application continue d'un signal de commande utilisant uniquement des dispositifs à semi-conducteurs, p.ex. onduleurs à impulsions à un seul commutateur
• H02M 7/5387 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant continu en une puissance de sortie en courant alternatif sans possibilité de réversibilité par convertisseurs statiques utilisant des tubes à décharge avec électrode de commande ou des dispositifs à semi-conducteurs avec électrode de commande utilisant des dispositifs du type triode ou transistor exigeant l'application continue d'un signal de commande utilisant uniquement des dispositifs à semi-conducteurs, p.ex. onduleurs à impulsions à un seul commutateur dans une configuration en pont
• H02M 1/00 - APPAREILS POUR LA TRANSFORMATION DE COURANT ALTERNATIF EN COURANT ALTERNATIF, DE COURANT ALTERNATIF EN COURANT CONTINU OU VICE VERSA OU DE COURANT CONTINU EN COURANT CONTINU ET EMPLOYÉS AVEC LES RÉSEAUX DE DISTRIBUTION D'ÉNERGIE OU DES SYSTÈMES D'ALI; TRANSFORMATION D'UNE PUISSANCE D'ENTRÉE EN COURANT CONTINU OU COURANT ALTERNATIF EN UNE PUISSANCE DE SORTIE DE CHOC; LEUR COMMANDE OU RÉGULATION - Détails d'appareils pour transformation
• H01L 23/50 - Dispositions pour conduire le courant électrique vers le ou hors du corps à l'état solide pendant son fonctionnement, p.ex. fils de connexion ou bornes pour des dispositifs à circuit intégré
• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 23/498 - Connexions électriques sur des substrats isolants
• H01L 23/522 - Dispositions pour conduire le courant électrique à l'intérieur du dispositif pendant son fonctionnement, d'un composant à un autre comprenant des interconnexions externes formées d'une structure multicouche de couches conductrices et isolantes inséparables du corps semi-conducteur sur lequel elles ont été déposées
• H01L 23/528 - Configuration de la structure d'interconnexion
• B62D 5/04 - Direction assistée ou à relais de puissance électrique, p.ex. au moyen d'un servomoteur relié au boîtier de direction ou faisant partie de celui-ci
• H02K 11/33 - Circuits d’entraînement, p.ex. circuits électroniques de puissance
• H02K 5/22 - Parties auxiliaires des enveloppes non couvertes par les groupes , p.ex. façonnées pour former des boîtes à connexions ou à bornes
• H02P 27/06 - Dispositions ou procédés pour la commande de moteurs à courant alternatif caractérisés par le type de tension d'alimentation utilisant une tension d’alimentation à fréquence variable, p.ex. tension d’alimentation d’onduleurs ou de convertisseurs utilisant des convertisseurs de courant continu en courant alternatif ou des onduleurs
• H05K 1/02 - Circuits imprimés - Détails
• H02K 11/27 - Dispositifs pour détecter le courant ou actionnés par des valeurs de cette variable

Abrégé

An electronic module has a first substrate 11, a first electronic element 13, a second electronic element 23, a second substrate 21, a first terminal part 110 and a second terminal part 120. The first terminal part 110 has a first terminal base end part 111, a first terminal outer part 113, and a first bending part 112 that is provided between the first terminal base end part 111 and the first terminal outer part 113 and that is bent toward the other side on a side of the first terminal base end part 111. The second terminal part 120 has a second terminal base end part 121, a second terminal outer part 123, and a second bending part 122 that is provided between the second terminal base end part 121 and the second terminal outer part 123 and that is bent toward one side on a side of the second terminal base end part 121.

Classes IPC  ?

• H01L 23/498 - Connexions électriques sur des substrats isolants
• H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p.ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes
• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
• H01L 23/367 - Refroidissement facilité par la forme du dispositif
• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
• H01L 25/07 - Ensembles consistant en une pluralité de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide les dispositifs étant tous d'un type prévu dans le même sous-groupe des groupes , ou dans une seule sous-classe de , , p.ex. ensembles de diodes redresseuses les dispositifs n'ayant pas de conteneurs séparés les dispositifs étant d'un type prévu dans le groupe
• H01L 25/18 - Ensembles consistant en une pluralité de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide les dispositifs étant de types prévus dans plusieurs sous-groupes différents du même groupe principal des groupes , ou dans une seule sous-classe de ,
• H01L 25/00 - Ensembles consistant en une pluralité de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide

Abrégé

A semiconductor device includes: a seal portion; a first electronic element; a first lead terminal; a second lead terminal having one end that is disposed to be close to the one end of the first lead terminal within the seal portion, and another end that is exposed from another end of the seal portion, the other end of the seal portion being along the longitudinal direction; a first connecting element disposed within the seal portion, and having one end that is electrically connected to the first electrode disposed on the first electronic element, and another end that is electrically connected to the one end of the second lead terminal; and a conductive bonding agent.

Classes IPC  ?

• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 25/07 - Ensembles consistant en une pluralité de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide les dispositifs étant tous d'un type prévu dans le même sous-groupe des groupes , ou dans une seule sous-classe de , , p.ex. ensembles de diodes redresseuses les dispositifs n'ayant pas de conteneurs séparés les dispositifs étant d'un type prévu dans le groupe
• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
• H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p.ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes

Abrégé

A semiconductor device is provided, including a seal portion; an electronic element within the seal portion; first, second, and third lead terminals; first and second connecting elements; and first and second conductive bonding agents, one end of the first connecting element having a protrusion downward and electrically connected to a control electrode of the electronic element with the first conductive bonding agent, a first side surface extending from the one end to the other end of the first connecting element is parallel to an extending direction along which the one end of the second connecting element extends, a wall portion being disposed on a top surface of the one end of the second lead terminal, and the wall portion being in contact with the other end of the first connecting element.

Classes IPC  ?

• H01L 21/768 - Fixation d'interconnexions servant à conduire le courant entre des composants distincts à l'intérieur du dispositif
• H01L 23/522 - Dispositions pour conduire le courant électrique à l'intérieur du dispositif pendant son fonctionnement, d'un composant à un autre comprenant des interconnexions externes formées d'une structure multicouche de couches conductrices et isolantes inséparables du corps semi-conducteur sur lequel elles ont été déposées
• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
• H01L 23/495 - Cadres conducteurs

Abrégé

A wide gap semiconductor device has: a first MOSFET region (M0) having a first gate electrode 10 and a first source region 30 provided in a first well region 20 made of a second conductivity type; a second MOSFET region (M1) provided below a gate pad 100 and having a second gate electrode 110 and a second source region 130 provided in a second well region 120 made of the second conductivity type; and a built-in diode region electrically connected to the second gate electrode 110. The second source region 130 of the second MOSFET region (M1) is electrically connected to the gate pad 100.

Classes IPC  ?

• H01L 29/78 - Transistors à effet de champ l'effet de champ étant produit par une porte isolée
• H01L 23/522 - Dispositions pour conduire le courant électrique à l'intérieur du dispositif pendant son fonctionnement, d'un composant à un autre comprenant des interconnexions externes formées d'une structure multicouche de couches conductrices et isolantes inséparables du corps semi-conducteur sur lequel elles ont été déposées
• H01L 27/088 - Dispositifs consistant en une pluralité de composants semi-conducteurs ou d'autres composants à l'état solide formés dans ou sur un substrat commun comprenant des éléments de circuit passif intégrés avec au moins une barrière de potentiel ou une barrière de surface le substrat étant un corps semi-conducteur comprenant uniquement des composants semi-conducteurs d'un seul type comprenant uniquement des composants à effet de champ les composants étant des transistors à effet de champ à porte isolée
• H01L 27/08 - Dispositifs consistant en une pluralité de composants semi-conducteurs ou d'autres composants à l'état solide formés dans ou sur un substrat commun comprenant des éléments de circuit passif intégrés avec au moins une barrière de potentiel ou une barrière de surface le substrat étant un corps semi-conducteur comprenant uniquement des composants semi-conducteurs d'un seul type

Abrégé

A semiconductor device includes: a substrate; a semiconductor element that disposed on the upper surface of the substrate; a sealing portion that seals the substrate and the semiconductor element; a first lead frame that has one end in contact with a upper surface of the first conductive layer at an end extending in the side direction of the upper surface of the substrate in the sealing portion, and has the other end exposed from the sealing portion; a first conductive bonding material that bonds between the upper surface of the first conductive layer and the lower surface side of the one end portion of the first lead frame at the end portion of the substrate, and has electrical conductivity.

Classes IPC  ?

• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 23/498 - Connexions électriques sur des substrats isolants
• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide

Abrégé

A semiconductor device includes: a lead frame that has one end in contact with the upper surface of the second terminal of the semiconductor element in the sealing portion, and that has the other end exposed from the sealing portion; and a control conductive bonding material that bonds between the upper surface of the second terminal of the semiconductor element and the one end of the lead frame, and the control conductive bonding material having electric conductivity.

Classes IPC  ?

• H01L 23/498 - Connexions électriques sur des substrats isolants
• H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p.ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes
• H01L 21/8234 - Technologie MIS

Abrégé

A semiconductor component 150 has a semiconductor layer 1 including a winding wire part 10 and a winding return wire part 50 connected at a terminal end part of the winding wire part 10 and returning from the terminal end part toward a starting end part side, wherein the semiconductor component is disposed so as to surround an object to be measured.

Classes IPC  ?

• G01R 19/00 - Dispositions pour procéder aux mesures de courant ou de tension ou pour en indiquer l'existence ou le signe
• G01R 15/12 - Circuits pour appareils de test à usage multiple, p.ex. pour mesurer, au choix, tension, courant ou impédance
• G01R 15/18 - Adaptations fournissant une isolation en tension ou en courant, p.ex. adaptations pour les réseaux à haute tension ou à courant fort utilisant des dispositifs inductifs, p.ex. des transformateurs

Abrégé

A semiconductor device includes: a semiconductor base substrate including a semiconductor layer; a first main electrode; a second main electrode; a plurality of peripheral trenches formed on a surface of the semiconductor layer and having bottom portions covered by the semiconductor layer in a peripheral region; and a plurality of in-trench electrodes each embedded in each of the plurality of peripheral trenches byway of an insulation layer formed on an inner surface of the each peripheral trench, wherein the semiconductor base substrate further includes, in the peripheral region, a plurality of second conductive type floating regions disposed in the semiconductor layer at a depth position deeper than the bottom portions of the peripheral trenches in a spaced apart manner from the peripheral trenches and having a potential in a floating state.

Classes IPC  ?

• H01L 29/06 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices
• H01L 29/78 - Transistors à effet de champ l'effet de champ étant produit par une porte isolée
• H01L 29/66 - Types de dispositifs semi-conducteurs
• H01L 29/40 - Electrodes

Abrégé

m′| is satisfied.

Classes IPC  ?

• H01L 29/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails des corps semi-conducteurs ou de leurs électrodes
• H01L 29/06 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices
• H01L 29/78 - Transistors à effet de champ l'effet de champ étant produit par une porte isolée
• H01L 29/10 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices avec des régions semi-conductrices connectées à une électrode ne transportant pas le courant à redresser, amplifier ou commuter, cette électrode faisant partie d'un dispositif à semi-conducteur qui comporte trois électrodes ou plus
• H02M 3/156 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant continu en une puissance de sortie en courant continu sans transformation intermédiaire en courant alternatif par convertisseurs statiques utilisant des tubes à décharge avec électrode de commande ou des dispositifs à semi-conducteurs avec électrode de commande utilisant des dispositifs du type triode ou transistor exigeant l'application continue d'un signal de commande utilisant uniquement des dispositifs à semi-conducteurs avec commande automatique de la tension ou du courant de sortie, p.ex. régulateurs à commutation
• H02M 7/537 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant continu en une puissance de sortie en courant alternatif sans possibilité de réversibilité par convertisseurs statiques utilisant des tubes à décharge avec électrode de commande ou des dispositifs à semi-conducteurs avec électrode de commande utilisant des dispositifs du type triode ou transistor exigeant l'application continue d'un signal de commande utilisant uniquement des dispositifs à semi-conducteurs, p.ex. onduleurs à impulsions à un seul commutateur
• H01L 29/16 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les matériaux dont ils sont constitués comprenant, mis à part les matériaux de dopage ou autres impuretés, seulement des éléments du groupe IV de la classification périodique, sous forme non combinée

Abrégé

A semiconductor device according to an embodiment is attached to a radiator and includes a heat-generating electronic component, a sealing part sealing the electronic component, a lead member that includes an inner lead part sealed with the sealing part and an outer lead part exposed from the sealing part, and a lead member that includes an inner lead part sealed with the sealing part and an outer lead part exposed from the sealing part. The inner lead part has a heat-dissipating end part that releases heat propagating from the outer lead part to the radiator and an electrical connecting part that is positioned between the heat-dissipating end part and the outer lead part and is electrically connected to the main electrode of the electronic component.

Classes IPC  ?

• H01L 23/367 - Refroidissement facilité par la forme du dispositif
• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
• H01L 23/498 - Connexions électriques sur des substrats isolants

Abrégé

An electronic component has a base 10; an electronic element 20 provided on one side of the base 10; a connecting body 30 provided on one side of the electronic element 20; a heat dissipating block 40 provided on one side of the connecting body 30; an insulating part 50 provided between the connecting body 30 and the heat dissipating block 40; and a sealing part 90 in which the electronic element 20, the connecting body 30 and the insulating part 50 are sealed. At least a part of a surface on another side of the base 10 is exposed from the sealing part 90. At least a part of a surface on one side of the heat dissipating block 40 is exposed from the sealing part 90.

Classes IPC  ?

• H01L 23/42 - Choix ou disposition de matériaux de remplissage ou de pièces auxiliaires dans le conteneur pour faciliter le chauffage ou le refroidissement
• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide

Abrégé

A power conversion device according to the present invention is provided with two or more sets of power modules each of which includes a switching element and a switching element control circuit having a third electrode voltage control part and a temperature detection part. The power modules PM1, PM2 are connected in parallel to each other. The switching element control circuit includes a temperature comparison part which calculates an average operation temperature of the switching element, and compares an operation temperature of the corresponding switching element and the average operation temperature. The third electrode voltage control part controls a third electrode voltage based on information including an average operation temperature, an operation temperature of the switching element, and a threshold voltage during operation.

Classes IPC  ?

• H02M 3/158 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant continu en une puissance de sortie en courant continu sans transformation intermédiaire en courant alternatif par convertisseurs statiques utilisant des tubes à décharge avec électrode de commande ou des dispositifs à semi-conducteurs avec électrode de commande utilisant des dispositifs du type triode ou transistor exigeant l'application continue d'un signal de commande utilisant uniquement des dispositifs à semi-conducteurs avec commande automatique de la tension ou du courant de sortie, p.ex. régulateurs à commutation comprenant plusieurs dispositifs à semi-conducteurs comme dispositifs de commande finale pour une charge unique
• H02M 1/32 - Moyens pour protéger les convertisseurs autrement que par mise hors circuit automatique
• H02M 1/088 - Circuits spécialement adaptés à la production d'une tension de commande pour les dispositifs à semi-conducteurs incorporés dans des convertisseurs statiques pour la commande simultanée de dispositifs à semi-conducteurs connectés en série ou en parallèle
• H02M 1/08 - Circuits spécialement adaptés à la production d'une tension de commande pour les dispositifs à semi-conducteurs incorporés dans des convertisseurs statiques

Abrégé

a, connected at a terminal end part of the winding wire part 10 and returning from the terminal end part toward a starting end part side.

Classes IPC  ?

• G01R 15/18 - Adaptations fournissant une isolation en tension ou en courant, p.ex. adaptations pour les réseaux à haute tension ou à courant fort utilisant des dispositifs inductifs, p.ex. des transformateurs
• G01R 19/00 - Dispositions pour procéder aux mesures de courant ou de tension ou pour en indiquer l'existence ou le signe

Abrégé

A semiconductor switch control circuit configured to perform an ON/OFF control of a semiconductor switch and includes: a pulse signal generating part configured to generate a pulse signal; a drive current generating part configured to generate a drive current based on the pulse signal which the pulse signal generating part generates and supplies the drive current to a gate electrode of the semiconductor switch; a gate voltage detecting part configured to detect a gate voltage VGS of the semiconductor switch; and a drive current control part configured to control the drive current which the drive current generating part generates based on the pulse signal which the pulse signal generating part generates and the gate voltage VGS which the gate voltage detecting part detects.

Classes IPC  ?

• H02M 1/00 - APPAREILS POUR LA TRANSFORMATION DE COURANT ALTERNATIF EN COURANT ALTERNATIF, DE COURANT ALTERNATIF EN COURANT CONTINU OU VICE VERSA OU DE COURANT CONTINU EN COURANT CONTINU ET EMPLOYÉS AVEC LES RÉSEAUX DE DISTRIBUTION D'ÉNERGIE OU DES SYSTÈMES D'ALI; TRANSFORMATION D'UNE PUISSANCE D'ENTRÉE EN COURANT CONTINU OU COURANT ALTERNATIF EN UNE PUISSANCE DE SORTIE DE CHOC; LEUR COMMANDE OU RÉGULATION - Détails d'appareils pour transformation
• H02M 1/08 - Circuits spécialement adaptés à la production d'une tension de commande pour les dispositifs à semi-conducteurs incorporés dans des convertisseurs statiques
• H02M 1/42 - Circuits ou dispositions pour corriger ou ajuster le facteur de puissance dans les convertisseurs ou les onduleurs
• H03K 17/687 - Commutation ou ouverture de porte électronique, c. à d. par d'autres moyens que la fermeture et l'ouverture de contacts caractérisée par l'utilisation de composants spécifiés par l'utilisation, comme éléments actifs, de dispositifs à semi-conducteurs les dispositifs étant des transistors à effet de champ

Abrégé

A vehicle lighting control device that controls lighting of a plurality of LED units mounted on a vehicle including an electronic device, the vehicle lighting control device including: a plurality of converters that are connected to a power supply and transform a power supply voltage supplied from the power supply; an output circuit that is connected to an output of the converter and outputs a drive signal to the LED unit with a voltage transformed by the converter; and a processor that generates a plurality of switching signals and outputs the generated switching signals to the corresponding converters, wherein at least one of a rising timing and a falling timing differs between the plurality of switching signals output to the plurality of converters.

Classes IPC  ?

• H05B 45/32 - Circuits de commande par impulsion
• H05B 47/10 - Commande de la source lumineuse
• H05B 45/325 - Modulation de la largeur des impulsions [PWM]
• H05B 47/16 - Commande de la source lumineuse par des moyens de minutage

Abrégé

A semiconductor device includes: a drift layer of a first conductivity type which is made of silicon carbide; a junction region formed on one main surface of the drift layer; a junction termination extended region of the drift layer, the junction termination extended region being formed outside the junction region when the one main surface is viewed in plan view, and the junction termination extended region containing an impurity of a second conductivity type opposite to the first conductivity type; and a guard ring region of the drift layer, the guard ring region being formed at a position overlapping the junction termination extended region when the one main surface is viewed in plan view, and the guard ring region containing the impurity of the second conductivity type with a concentration that is higher than that of the junction termination extended region, wherein in the junction termination extended region, the concentration of the impurity of the second conductivity type in a depth direction from the one main surface increases from the one main surface down to a first depth, and the concentration of the impurity of the second conductivity type at the one main surface is one tenth or less the concentration of the impurity of the second conductivity type at the first depth and is higher than a concentration of an impurity of the first conductivity type of the drift layer.

Classes IPC  ?

• H01L 29/06 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices
• H01L 29/16 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les matériaux dont ils sont constitués comprenant, mis à part les matériaux de dopage ou autres impuretés, seulement des éléments du groupe IV de la classification périodique, sous forme non combinée
• H01L 29/872 - Diodes Schottky

Abrégé

A semiconductor device includes: a circuit unit including a semiconductor chip; a plurality of pin terminals formed in a rod shape extending in a same direction from the circuit unit and electrically connected to the circuit unit; a sealing resin portion sealing the circuit unit and first portions of the plurality of pin terminals positioned on a side of the circuit unit; and a plurality of covering resin portions integrally extending from an outer surface of the sealing resin portion from which second portions of the plurality of pin terminals protrude, the plurality of covering resin portions being formed in a cylindrical shape respectively covering base end portions of the second portions of the plurality of pin terminals, which are positioned on a side of the sealing resin portion.

Classes IPC  ?

• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
• H01L 23/49 - Dispositions pour conduire le courant électrique vers le ou hors du corps à l'état solide pendant son fonctionnement, p.ex. fils de connexion ou bornes formées de structures soudées du type fils de connexion
• H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p.ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes
• H01L 21/56 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements
• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
• H01L 23/373 - Refroidissement facilité par l'emploi de matériaux particuliers pour le dispositif

Abrégé

A power module according to the present invention switches an operation mode between a control mode where an ON/OFF operation of a switching element having a first electrode, a second electrode, and a third electrode is controlled, and a deterioration determination mode where the deterioration is determined based on information including ΔVgs based on information including a threshold voltage detected before a stress current is supplied to the switching element and a threshold voltage detected after the stress current is supplied to the switching element. According to the power module of the present invention, the deterioration can be determined during an operation time and hence, breaking of the device can be prevented, and operation efficiency of the power module can be increased, and a manufacturing cost of the power module can be lowered.

Classes IPC  ?

• G01R 31/26 - Test de dispositifs individuels à semi-conducteurs
• H02M 1/08 - Circuits spécialement adaptés à la production d'une tension de commande pour les dispositifs à semi-conducteurs incorporés dans des convertisseurs statiques
• H03K 17/08 - Modifications pour protéger le circuit de commutation contre la surintensité ou la surtension
• H03K 17/16 - Modifications pour éliminer les tensions ou courants parasites
• H03K 17/687 - Commutation ou ouverture de porte électronique, c. à d. par d'autres moyens que la fermeture et l'ouverture de contacts caractérisée par l'utilisation de composants spécifiés par l'utilisation, comme éléments actifs, de dispositifs à semi-conducteurs les dispositifs étant des transistors à effet de champ

Abrégé

An electronic module has a first substrate 11; a second substrate 21 provided in one side of the first substrate 11; and a chip module 100 provided between the first substrate 11 and the second substrate 21. The chip module 100 has an electronic element 13, 23 and a connecting body 60, 70, 80 electrically connected to the electronic element 13, 23. The electronic element 13, 23 extends along a first direction that is a thickness direction of the electronic module.

Classes IPC  ?

• H01L 23/538 - Dispositions pour conduire le courant électrique à l'intérieur du dispositif pendant son fonctionnement, d'un composant à un autre la structure d'interconnexion entre une pluralité de puces semi-conductrices se trouvant au-dessus ou à l'intérieur de substrats isolants
• H01L 25/065 - Ensembles consistant en une pluralité de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide les dispositifs étant tous d'un type prévu dans le même sous-groupe des groupes , ou dans une seule sous-classe de , , p.ex. ensembles de diodes redresseuses les dispositifs n'ayant pas de conteneurs séparés les dispositifs étant d'un type prévu dans le groupe

Abrégé

An electronic module has a rear surface-exposed conductor 10, 20, 30 having a rear surface-exposed part 12, 22, 32 whose rear surface is exposed; an electronic element 15, 25 provided on a front surface of the rear surface-exposed conductor 10, 20, 30; and a connector 60 configure to connect the rear surface-exposed conductor 10, 20, 30 and the electronic element 15, 25 or two rear surface-exposed conductors 10, 20, 30 each other. A groove 150 is provided on the front surface of the rear surface-exposed conductor 10, 20, 30. The sealing part 90 is provided with a press hole or a press impression 110, 120, 130 used to press the rear surface-exposed conductor 10, 20, 30. In an in-plane direction, a center portion of the press hole or the press impression 110, 120, 130 is provided on the side opposite to the connector 60 or the electronic element 15, 25 with respect to the groove 150.

Classes IPC  ?

• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 23/48 - Dispositions pour conduire le courant électrique vers le ou hors du corps à l'état solide pendant son fonctionnement, p.ex. fils de connexion ou bornes
• H01L 21/00 - Procédés ou appareils spécialement adaptés à la fabrication ou au traitement de dispositifs à semi-conducteurs ou de dispositifs à l'état solide, ou bien de leurs parties constitutives
• H05K 7/18 - Structure des bâtis ou des cadres
• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
• H01L 21/56 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements
• H02P 27/06 - Dispositions ou procédés pour la commande de moteurs à courant alternatif caractérisés par le type de tension d'alimentation utilisant une tension d’alimentation à fréquence variable, p.ex. tension d’alimentation d’onduleurs ou de convertisseurs utilisant des convertisseurs de courant continu en courant alternatif ou des onduleurs

Abrégé

A wide gap semiconductor device has: a drift layer 12 being a first conductivity type; a well region 20 being a second conductivity type and provided in the drift layer 12; a source region 31 provided in the well region 20; a gate insulating film 60 provided on the drift layer 12 and the well region 20; a field insulating film 62 provided between a gate insulating film 60 and the well region 20; a gate electrode 125 provided on the gate insulating film 60; and a gate pad 120 electrically connected to the gate electrode 125. The field insulating film 62 has a recessed part extending in a plane direction. The well region 20 has a well contact region 21 electrically connected to a source pad 110 provided in the recessed part.

Classes IPC  ?

• H01L 29/78 - Transistors à effet de champ l'effet de champ étant produit par une porte isolée
• H01L 29/16 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les matériaux dont ils sont constitués comprenant, mis à part les matériaux de dopage ou autres impuretés, seulement des éléments du groupe IV de la classification périodique, sous forme non combinée

Abrégé

A battery charger includes a plurality of rectifier, a plurality of switches respectively for the plurality of rectifier elements, a zero-crossing detector, a switch controller, and a detection reference changer. The plurality of rectifier elements rectify AC voltages of three phases output from a power generator. The plurality of rectifier elements, in an off-state, causes the plurality of rectifier elements to rectify the AC voltages to charge a battery. The plurality of rectifier elements, in an on-state, causes the AC voltages to be short-circuited to a negative side of the battery. The zero-crossing detector detects zero-crossings of the AC voltages. The switch controller outputs, based on the zero crossings, a gate signal for turning on and off the plurality of switches. The detection reference changer changes a reference for the zero-crossing detector to detect the zero crossings.

Classes IPC  ?

• H02J 7/00 - Circuits pour la charge ou la dépolarisation des batteries ou pour alimenter des charges par des batteries
• H02M 3/337 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant continu en une puissance de sortie en courant continu avec transformation intermédiaire en courant alternatif par convertisseurs statiques utilisant des tubes à décharge avec électrode de commande ou des dispositifs à semi-conducteurs avec électrodes de commande pour produire le courant alternatif intermédiaire utilisant des dispositifs du type triode ou transistor exigeant l'application continue d'un signal de commande utilisant uniquement des dispositifs à semi-conducteurs en configuration push-pull
• H02J 9/06 - Circuits pour alimentation de puissance de secours ou de réserve, p.ex. pour éclairage de secours dans lesquels le système de distribution est déconnecté de la source normale et connecté à une source de réserve avec commutation automatique

Abrégé

A switching element control circuit includes a third electrode voltage control part which controls a third electrode voltage; a temperature detection part which detects an operation temperature of the switching element; a memory part which stores an initial threshold voltage, an initial temperature when the initial threshold voltage is measured, and a temperature characteristic of a threshold voltage; and a threshold voltage calculation part which calculates a threshold voltage at the time of operating the switching element based on information including the operation temperature of the switching element, the initial threshold voltage, and an initial temperature when the initial threshold voltage is measured, and information relating to a temperature characteristic of a threshold voltage, wherein the third electrode voltage control part controls the third electrode voltage based on a threshold voltage at the time of operating the switching element calculated by the threshold voltage calculation part.

Classes IPC  ?

• H03K 17/14 - Modifications pour compenser les variations de valeurs physiques, p.ex. de la température
• H02M 1/08 - Circuits spécialement adaptés à la production d'une tension de commande pour les dispositifs à semi-conducteurs incorporés dans des convertisseurs statiques

Abrégé

A wide gap semiconductor device has: a drift layer 12 using wide gap semiconductor material being a first conductivity type; a plurality of well regions 20 being a second conductivity type and formed in the drift layer 12; a polysilicon layer 150 provided on the well regions 20 and on the drift layer 12 between the well regions 20; an interlayer insulating film 65 provided on the polysilicon layer 150; a gate pad 120 provided on the interlayer insulating film 65; and a source pad 110 electrically connected to the polysilicon layer 150.

Classes IPC  ?

• H01L 29/41 - Electrodes caractérisées par leur forme, leurs dimensions relatives ou leur disposition relative
• H01L 29/49 - Electrodes du type métal-isolant-semi-conducteur
• H01L 29/66 - Types de dispositifs semi-conducteurs
• H01L 29/78 - Transistors à effet de champ l'effet de champ étant produit par une porte isolée
• H01L 29/10 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices avec des régions semi-conductrices connectées à une électrode ne transportant pas le courant à redresser, amplifier ou commuter, cette électrode faisant partie d'un dispositif à semi-conducteur qui comporte trois électrodes ou plus
• H01L 29/16 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les matériaux dont ils sont constitués comprenant, mis à part les matériaux de dopage ou autres impuretés, seulement des éléments du groupe IV de la classification périodique, sous forme non combinée
• H01L 29/40 - Electrodes
• H01L 29/417 - Electrodes caractérisées par leur forme, leurs dimensions relatives ou leur disposition relative transportant le courant à redresser, à amplifier ou à commuter

Abrégé

An electronic module has a first electronic element 13, a first connector 60 provided in one side of the first electronic element 13, and having a first columnar part 62 extending to another side and a first groove part 64 provided in a one-side surface, and a second electronic element 23 provided in one side of the first connector 60 via a conductive adhesive agent provided inside a circumference of the first groove part 64. The first connector 60 has a first concave part 67 on one side at a position corresponding to the first columnar part 62.

Classes IPC  ?

• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
• H01L 25/07 - Ensembles consistant en une pluralité de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide les dispositifs étant tous d'un type prévu dans le même sous-groupe des groupes , ou dans une seule sous-classe de , , p.ex. ensembles de diodes redresseuses les dispositifs n'ayant pas de conteneurs séparés les dispositifs étant d'un type prévu dans le groupe
• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p.ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes
• H01L 23/492 - Embases ou plaques
• H01L 23/498 - Connexions électriques sur des substrats isolants

Abrégé

An electronic device has an electronic module having an insulating substrate 60, a conductor layer 20 provided on the insulating substrate 60, an electronic element 40 provided on the conductor layer 20 and a heat dissipation layer 10 provided on the insulating substrate in an opposite side of the electronic element 40 and a cooling body 100 which abuts on the heat dissipation layer 10. The cooling body 100 has a divided part 110 being provided at a portion which abuts on the heat dissipation layer 10 and being a plurality of divided regions.

Classes IPC  ?

• H01L 23/473 - Dispositions pour le refroidissement, le chauffage, la ventilation ou la compensation de la température impliquant le transfert de chaleur par des fluides en circulation par une circulation de liquides
• H01L 25/07 - Ensembles consistant en une pluralité de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide les dispositifs étant tous d'un type prévu dans le même sous-groupe des groupes , ou dans une seule sous-classe de , , p.ex. ensembles de diodes redresseuses les dispositifs n'ayant pas de conteneurs séparés les dispositifs étant d'un type prévu dans le groupe
• H05K 7/20 - Modifications en vue de faciliter la réfrigération, l'aération ou le chauffage

Abrégé

An electronic module has a sealing part 90; electronic elements 15, 25 provided in the sealing part 90; rear surface-exposed conductors 10, 20, 30 having rear surface-exposed parts whose rear surface are exposed from the sealing part 90, and having one-terminal parts 11, 21, 31, which extend from the rear surface-exposed parts 12, 22, 32 and protrude outwardly from a side of the sealing part 90; and rear surface-unexposed conductors 40, 50 having unexposed parts 42, 52, which are sealed in the sealing part 90, and having other-terminal parts 41, 51, which extend from the unexposed parts 42, 52 and protrude outwardly from a side of the sealing part 90. The electronic elements 15, 25 are placed on the rear surface-exposed parts 12, 22, 32. The other-terminal parts 41, 51 have a width narrower than a width of the one-terminal parts 11, 21, 31.

Classes IPC  ?

• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 23/48 - Dispositions pour conduire le courant électrique vers le ou hors du corps à l'état solide pendant son fonctionnement, p.ex. fils de connexion ou bornes
• H01L 21/00 - Procédés ou appareils spécialement adaptés à la fabrication ou au traitement de dispositifs à semi-conducteurs ou de dispositifs à l'état solide, ou bien de leurs parties constitutives
• H05K 7/18 - Structure des bâtis ou des cadres
• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
• H02M 7/00 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant alternatif en une puissance de sortie en courant continu; Transformation d'une puissance d'entrée en courant continu en une puissance de sortie en courant alternatif
• H02M 7/5387 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant continu en une puissance de sortie en courant alternatif sans possibilité de réversibilité par convertisseurs statiques utilisant des tubes à décharge avec électrode de commande ou des dispositifs à semi-conducteurs avec électrode de commande utilisant des dispositifs du type triode ou transistor exigeant l'application continue d'un signal de commande utilisant uniquement des dispositifs à semi-conducteurs, p.ex. onduleurs à impulsions à un seul commutateur dans une configuration en pont

Abrégé

An electronic module has a sealing part 90; electronic elements 15, 25 provided in the sealing part 90; back-surface exposed conductors 10, 20, 30 having back-surface exposed parts 12, 22, 32, which have back surfaces exposed from the sealing part 90, and having one-terminal parts 11, 21, 31, which extend from the back-surface exposed parts 12, 22, 32 and protrude outward from a side of the sealing part 90; and back-surface unexposed conductors 40, 50 having unexposed parts 42, 52, which are sealed in the sealing part 90, and having other-terminal parts 41, 51, which extend from the unexposed parts 42, 52 and protrude outward from a side of the sealing part 90. The electronic elements 15, 25 are placed on the back-surface exposed parts 12, 22, 32. The other-terminal parts 41, 51 have a width narrower than a width of the one-terminal parts 11, 21, 31.

Classes IPC  ?

• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 23/48 - Dispositions pour conduire le courant électrique vers le ou hors du corps à l'état solide pendant son fonctionnement, p.ex. fils de connexion ou bornes
• H01L 21/00 - Procédés ou appareils spécialement adaptés à la fabrication ou au traitement de dispositifs à semi-conducteurs ou de dispositifs à l'état solide, ou bien de leurs parties constitutives
• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide

Abrégé

An electronic module comprises a sealing part 90, a rear surface-exposed conductor 10, 20, 30, a rear surface-unexposed conductor 40, 50 and a second connector 70 for electrically connecting an electronic element 15, 25 to the rear surface-unexposed conductor 40, 50. The rear surface-unexposed conductor 40, 50 is positioned on a front surface side compared with the rear surface-exposed part 12, 22, 32. The second connection tip part 72 is positioned on a rear surface side compared with the second connection base part 71. A distance H in a thickness direction between a rear surface side end part of the second connection base part 71 and a rear surface side end part of the second connection tip part 72 is larger than a width W of the second connection tip part 72 of the second connector 70.

Classes IPC  ?

• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide

Abrégé

In a first step of a method of manufacturing a semiconductor device, a portion to be the first lead frame is formed by selectively punching a metal plate, furthermore, notch portions depressed in the reference direction are formed on both side surfaces of a portion, of the first lead frame where the first bent portion is formed, in line contact with the first conductive layer in the reference direction; in the second step of the method, a first bent portion is formed by bending the one end of the first lead frame so as to protrude downward along the reference direction; and in the third step of the method, the upper surface of the first conductive layer and the lower surface of the first bent portion of the first lead frame are joined at the end of the substrate, by the first conductive bonding material, furthermore, the upper surface of the first conductive layer and the notch portions of the first bent portion are joined, by embedding a part of the first conductive bonding material in the notch portions.

Classes IPC  ?

• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p.ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes
• H01L 21/60 - Fixation des fils de connexion ou d'autres pièces conductrices, devant servir à conduire le courant vers le ou hors du dispositif pendant son fonctionnement
• H01L 21/56 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements
• H01L 21/8234 - Technologie MIS

Abrégé

The one end portion of the connector of the semiconductor device includes: a horizontal portion; a first inclined portion that is connected to the horizontal portion and is located closer to the tip end side of the one end than the horizontal portion, and the first inclined portion having a shape inclined downward from the horizontal portion; and a control bending portion that is connected to the first inclined portion and positioned at the tip of the one end portion, and the control bending portion bent downwardly along the bending axis direction. The lower surface of the control bending portion is in contact with an upper surface of the second terminal.

Classes IPC  ?

• H01L 21/48 - Fabrication ou traitement de parties, p.ex. de conteneurs, avant l'assemblage des dispositifs, en utilisant des procédés non couverts par l'un uniquement des groupes
• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 23/498 - Connexions électriques sur des substrats isolants
• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
• H01L 21/56 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements
• H01L 21/8234 - Technologie MIS
• H01L 21/60 - Fixation des fils de connexion ou d'autres pièces conductrices, devant servir à conduire le courant vers le ou hors du dispositif pendant son fonctionnement

Abrégé

An electronic device has a sealing part 90, a first terminal 11 projecting outward from a first side surface of the sealing part 90, a second terminal 13 projecting outward from a second side surface different from the first side surface of the sealing part 90, an electronic element 95 provided inside the sealing part 90, and a head part 40 coupled to the first terminal 11 and the second terminal and connected to a front surface of the semiconductor element 95 via a conductive adhesive 75.

Classes IPC  ?

• H01L 23/48 - Dispositions pour conduire le courant électrique vers le ou hors du corps à l'état solide pendant son fonctionnement, p.ex. fils de connexion ou bornes
• H01L 23/482 - Dispositions pour conduire le courant électrique vers le ou hors du corps à l'état solide pendant son fonctionnement, p.ex. fils de connexion ou bornes formées de couches conductrices inséparables du corps semi-conducteur sur lequel elles ont été déposées
• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide

Abrégé

A controlling apparatus 1 according to an embodiment is a controlling apparatus of a hybrid vehicle 30 including a motor generator 3 that is mechanically connected to an internal combustion engine 2 and that can generate power in response to rotation of the internal combustion engine 2 and provide torque to the internal combustion engine 2, the controlling apparatus 1 including a rotation information acquiring unit 11 that acquires rotation information of the motor generator 3 with a higher resolution than rotation information of the internal combustion engine 2 and a power generation determining unit 12 that makes a determination regarding the power generation by the motor generator 3 based on the rotation information of the motor generator 3.

Classes IPC  ?

• B60W 20/00 - Systèmes de commande spécialement adaptés aux véhicules hybrides
• B60K 6/26 - Agencement ou montage de plusieurs moteurs primaires différents pour une propulsion réciproque ou commune, p.ex. systèmes de propulsion hybrides comportant des moteurs électriques et des moteurs à combustion interne les moteurs primaires étant constitués de moteurs électriques et de moteurs à combustion interne, p.ex. des VEH caractérisés par des appareils, des organes ou des moyens spécialement adaptés aux VEH caractérisés par les moteurs ou les générateurs
• B60K 6/485 - Agencement ou montage de plusieurs moteurs primaires différents pour une propulsion réciproque ou commune, p.ex. systèmes de propulsion hybrides comportant des moteurs électriques et des moteurs à combustion interne les moteurs primaires étant constitués de moteurs électriques et de moteurs à combustion interne, p.ex. des VEH caractérisés par l'architecture du véhicule électrique hybride du type parallèle du type à assistance moteur
• B60W 50/038 - Limitant les grandeurs d'entrée, puissance, couple ou vitesse

Abrégé

An electronic module has a first substrate 11, a first conductor layer 12 that is provided on one side of the first substrate 11, a first electronic element 13 that is provided on one side of the first conductor layer 12, a second electronic element 23 that is provided on one side of the first electronic element 23, and a second connecting body 70 that has a second head part 71 provided on one side of the second electronic element 23 and an extending part 75 extending from the second head part 71 to the other side and abutting against the first substrate 11 or the first conductor layer 12.

Classes IPC  ?

• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
• H01L 23/492 - Embases ou plaques
• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 25/07 - Ensembles consistant en une pluralité de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide les dispositifs étant tous d'un type prévu dans le même sous-groupe des groupes , ou dans une seule sous-classe de , , p.ex. ensembles de diodes redresseuses les dispositifs n'ayant pas de conteneurs séparés les dispositifs étant d'un type prévu dans le groupe
• H01L 23/367 - Refroidissement facilité par la forme du dispositif
• H01L 23/538 - Dispositions pour conduire le courant électrique à l'intérieur du dispositif pendant son fonctionnement, d'un composant à un autre la structure d'interconnexion entre une pluralité de puces semi-conductrices se trouvant au-dessus ou à l'intérieur de substrats isolants

Abrégé

A MOSFET includes: a semiconductor base substrate having an n-type column region and a p-type column region, the n-type column region and the p-type column region forming a super junction structure; and a gate electrode formed by way of a gate insulation film. Assuming a region of the semiconductor base substrate which provides a main operation of the MOSFET as an active region, a region of the semiconductor base substrate maintaining a withstand voltage of the MOSFET as an outer peripheral region, and a region of the semiconductor base substrate disposed between the active region and the outer peripheral region as an active connecting region, out of the active region, the active connecting region, and the outer peripheral region of the semiconductor base substrate, the crystal defects are formed only in the active region and the active connecting region.

Classes IPC  ?

• H01L 29/78 - Transistors à effet de champ l'effet de champ étant produit par une porte isolée
• H01L 29/06 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices
• H01L 29/32 - Corps semi-conducteurs ayant des surfaces polies ou rugueuses les défectuosités étant à l'intérieur du corps semi-conducteur
• H01L 29/66 - Types de dispositifs semi-conducteurs

Abrégé

A semiconductor device manufacturing method includes: a pretreatment step of performing a hydrophobic treatment on a first exposed region of an exposed surface, an n-type semiconductor layer being exposed from the first exposed region, and a pn junction being exposed from the exposed surface; an impurity supplying step of supplying an n-type impurity to the first exposed region; a channel stopper forming step of irradiating the first exposed region with a laser beam to introduce the n-type impurity into the n-type semiconductor layer, thus forming a channel stopper; and a glass layer forming step of forming a glass layer using a glass composition so as to cover the exposed surface.

Classes IPC  ?

• H01L 29/06 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices
• H01L 21/268 - Bombardement par des radiations ondulatoires ou corpusculaires par des radiations d'énergie élevée les radiations étant électromagnétiques, p.ex. des rayons laser
• H01L 21/762 - Régions diélectriques

Abrégé

2 when the freewheel diode is the SiC-SBD.

Classes IPC  ?

• H01L 29/06 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices
• H01L 29/78 - Transistors à effet de champ l'effet de champ étant produit par une porte isolée
• H02M 3/155 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant continu en une puissance de sortie en courant continu sans transformation intermédiaire en courant alternatif par convertisseurs statiques utilisant des tubes à décharge avec électrode de commande ou des dispositifs à semi-conducteurs avec électrode de commande utilisant des dispositifs du type triode ou transistor exigeant l'application continue d'un signal de commande utilisant uniquement des dispositifs à semi-conducteurs
• H02M 1/00 - APPAREILS POUR LA TRANSFORMATION DE COURANT ALTERNATIF EN COURANT ALTERNATIF, DE COURANT ALTERNATIF EN COURANT CONTINU OU VICE VERSA OU DE COURANT CONTINU EN COURANT CONTINU ET EMPLOYÉS AVEC LES RÉSEAUX DE DISTRIBUTION D'ÉNERGIE OU DES SYSTÈMES D'ALI; TRANSFORMATION D'UNE PUISSANCE D'ENTRÉE EN COURANT CONTINU OU COURANT ALTERNATIF EN UNE PUISSANCE DE SORTIE DE CHOC; LEUR COMMANDE OU RÉGULATION - Détails d'appareils pour transformation

Abrégé

A semiconductor device includes an n-type base substrate; a p-type first region; a p-type surface region having a plurality of second corner portions and a plurality of second side portions surrounding the first region. The p-type surface region has a dopant concentration lower than a dopant concentration of the first region. The semiconductor device further includes a field plate in a region overlapping with the surface region in a plan view by way of an insulation film. The field plate has a plurality of field plate corner portions and a plurality of field plate side portions. A relationship of L1>L2 is established at least at a portion of the surface region or a relationship of FP1>FP2 is established at least at a portion of the field plate is satisfied. A withstand voltage of the second side portion is lower than a withstand voltage of the second corner portion.

Classes IPC  ?

• H01L 29/06 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices
• H01L 29/40 - Electrodes

Abrégé

A switching element control circuit is configured to perform a measurement mode in which a threshold voltage of a switching element is measured and a control mode in which an ON/OFF operation of the switching element is controlled in a switching manner. The switching element control circuit includes: a threshold voltage measurement power source; a third electrode voltage control part; an ON/OFF state determination part; and a memory part which stores the third electrode voltage applied to the third electrode as a threshold voltage of the switching element. The third electrode voltage control part controls, in the control mode, the third electrode voltage based on information including the threshold voltage stored in the memory part at the time of bringing the switching element into an ON state.

Classes IPC  ?

• H03K 17/687 - Commutation ou ouverture de porte électronique, c. à d. par d'autres moyens que la fermeture et l'ouverture de contacts caractérisée par l'utilisation de composants spécifiés par l'utilisation, comme éléments actifs, de dispositifs à semi-conducteurs les dispositifs étant des transistors à effet de champ
• H03K 17/06 - Modifications pour assurer un état complètement conducteur
• H03K 17/14 - Modifications pour compenser les variations de valeurs physiques, p.ex. de la température
• H03K 17/18 - Modifications pour indiquer l'état d'un commutateur
• H03K 17/567 - Circuits caractérisés par l'utilisation d'au moins deux types de dispositifs à semi-conducteurs, p.ex. BIMOS, dispositifs composites tels que IGBT
• H02M 1/00 - APPAREILS POUR LA TRANSFORMATION DE COURANT ALTERNATIF EN COURANT ALTERNATIF, DE COURANT ALTERNATIF EN COURANT CONTINU OU VICE VERSA OU DE COURANT CONTINU EN COURANT CONTINU ET EMPLOYÉS AVEC LES RÉSEAUX DE DISTRIBUTION D'ÉNERGIE OU DES SYSTÈMES D'ALI; TRANSFORMATION D'UNE PUISSANCE D'ENTRÉE EN COURANT CONTINU OU COURANT ALTERNATIF EN UNE PUISSANCE DE SORTIE DE CHOC; LEUR COMMANDE OU RÉGULATION - Détails d'appareils pour transformation

Abrégé

A MOSFET includes: a semiconductor base substrate having n-type column regions and p-type column regions, the n-type column regions and the p-type column regions forming a super junction structure; and a gate electrode which is formed on a first main surface side of the semiconductor base substrate by way of a gate insulation film, wherein crystal defects whose density is increased locally as viewed along a depth direction are formed in the n-type column regions and the p-type column regions, using the first main surface as a reference and assuming a depth to a deepest portion of the super junction structure as Dp, a depth at which density of the crystal defects exhibits a maximum value as Dd, and a half value width of density distribution of the crystal defects as W, a relationship of 0.25Dp≤Dd<0.95Dp and a relationship of 0.05Dp

Classes IPC  ?

• H01L 21/22 - Diffusion des impuretés, p.ex. des matériaux de dopage, des matériaux pour électrodes, à l'intérieur ou hors du corps semi-conducteur, ou entre les régions semi-conductrices; Redistribution des impuretés, p.ex. sans introduction ou sans élimination de matériau dopant supplémentaire
• H01L 21/324 - Traitement thermique pour modifier les propriétés des corps semi-conducteurs, p.ex. recuit, frittage
• H01L 29/06 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices
• H01L 29/10 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices avec des régions semi-conductrices connectées à une électrode ne transportant pas le courant à redresser, amplifier ou commuter, cette électrode faisant partie d'un dispositif à semi-conducteur qui comporte trois électrodes ou plus
• H01L 29/32 - Corps semi-conducteurs ayant des surfaces polies ou rugueuses les défectuosités étant à l'intérieur du corps semi-conducteur
• H01L 29/66 - Types de dispositifs semi-conducteurs
• H01L 29/78 - Transistors à effet de champ l'effet de champ étant produit par une porte isolée

Abrégé

An electronic device has a sealing part 90, a first main terminal 11 protruding outward from the sealing part 90, a second main terminal 12 protruding outwardly from the sealing part, an electronic element 95 provided in the sealing part and having a front surface electrically connected to the first main terminal 11 and a back surface electrically connected to the second main terminal 12, a head part 40 connected to the front surface of the electronic element 95, a sensing terminal 13 protruding to an outside from the sealing part 90 and used for sensing and a connection part 35 integrally formed with the head part 40 and electrically connected to the sensing terminal 13. A current flowing through the sensing terminal 13 and the connection part 35 among a sensing current path does not overlap a main current path flowing through the second main terminal 12, the electronic element 95 and the first main terminal 11.

Classes IPC  ?

• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
• H01L 23/498 - Connexions électriques sur des substrats isolants
• G01R 19/00 - Dispositions pour procéder aux mesures de courant ou de tension ou pour en indiquer l'existence ou le signe

Abrégé

An electronic device has a sealing part 90, an electronic element 95 provided in the sealing part 90 and a connection body 50 having a head part 40 connected to a front surface of the electronic element 95 via a conductive adhesive 75. The head part 40 has a second projection protruding 42 toward the electronic element 95 and a first projection 41 protruding from the second projection 42 toward the electronic element 95.

Classes IPC  ?

• H01L 23/00 - DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS NON COUVERTS PAR LA CLASSE - Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
• H01L 23/495 - Cadres conducteurs
• H01L 23/482 - Dispositions pour conduire le courant électrique vers le ou hors du corps à l'état solide pendant son fonctionnement, p.ex. fils de connexion ou bornes formées de couches conductrices inséparables du corps semi-conducteur sur lequel elles ont été déposées
• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition

Abrégé

A semiconductor module includes a die pad frame; a semiconductor chip disposed in a chip region on an upper surface of the die pad frame, a conductive connection member for die pad disposed between the second electrode of the semiconductor chip and the upper surface of the die pad frame, the conductive connection member for die pad electrically connecting the second electrode of the semiconductor chip and the upper surface of the die pad frame; a first clip frame disposed on the upper surface of the semiconductor chip; a first clip conductive connection member disposed between the first electrode on the semiconductor chip and a lower surface of the first clip frame, the first clip conductive connection member electrically connecting the first electrode of the semiconductor chip and the lower surface of the first clip frame; and a sealing resin.

Classes IPC  ?

• H01L 23/49 - Dispositions pour conduire le courant électrique vers le ou hors du corps à l'état solide pendant son fonctionnement, p.ex. fils de connexion ou bornes formées de structures soudées du type fils de connexion
• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
• H01L 23/495 - Cadres conducteurs

Abrégé

An electronic module has a first substrate 11, an electronic element 13, 23 disposed on one side of the first substrate 11, a second substrate 21 disposed on one side of the electronic element 13, 23, a first coupling body 210 disposed between the first substrate 11 and the second substrate 21, a second coupling body 220 disposed between the first substrate 11 and the second substrate 21, and shorter than the first coupling body 210, and a sealing part 90 which seals at least the electronic element. The first coupling body 210 is not electrically connected to the electronic element. The second coupling body 220 is electrically connected to the electronic element 13, 23.

Classes IPC  ?

• H01L 21/56 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements
• H01L 23/433 - Pièces auxiliaires caractérisées par leur forme, p.ex. pistons
• H01L 23/31 - Capsulations, p.ex. couches de capsulation, revêtements caractérisées par leur disposition
• H01L 23/538 - Dispositions pour conduire le courant électrique à l'intérieur du dispositif pendant son fonctionnement, d'un composant à un autre la structure d'interconnexion entre une pluralité de puces semi-conductrices se trouvant au-dessus ou à l'intérieur de substrats isolants
• H01L 23/373 - Refroidissement facilité par l'emploi de matériaux particuliers pour le dispositif

Abrégé

A method of manufacturing a semiconductor device includes in a following order: a first forming step where a gate electrode is formed on a first main surface side of a semiconductor base substrate with a gate insulation film interposed therebetween and, thereafter, an interlayer insulation film is formed to cover the gate electrode; a second forming step where a metal layer in a state of being connected with the gate electrode is formed over the interlayer insulation film; an irradiating step where a lattice defect is formed inside the semiconductor base substrate by irradiating an electron beam to the semiconductor base substrate in a state where the metal layer is set to a ground potential; a dividing step where the metal layer is divided into a plurality of electrodes; and an annealing step where the lattice defect in the semiconductor base substrate is repaired by heating the semiconductor base substrate.

Classes IPC  ?

• H01L 21/263 - Bombardement par des radiations ondulatoires ou corpusculaires par des radiations d'énergie élevée
• H01L 21/324 - Traitement thermique pour modifier les propriétés des corps semi-conducteurs, p.ex. recuit, frittage
• H01L 29/40 - Electrodes
• H01L 29/66 - Types de dispositifs semi-conducteurs
• H01L 29/78 - Transistors à effet de champ l'effet de champ étant produit par une porte isolée

Abrégé

Provided is a MOSFET which includes: a semiconductor base substrate having an n-type column region and a p-type column region, a base region and a source region, wherein a super junction structure is formed of the n-type column region and the p-type column region; a trench having side walls and a bottom; a gate electrode formed in the trench by way of a gate insulation film; a carrier compensation electrode positioned between the gate electrode and the bottom of the trench; an insulation region separating the carrier compensation electrode from the side walls and the bottom; and a source electrode electrically connected to the source region and also electrically connected to the carrier compensation electrode. According to the MOSFET of the present invention, even when an irregularity in a charge balance occurs around the gate, an irregularity in switching characteristics when the MOSFET is turned off can be decreased.

Classes IPC  ?

• H01L 29/06 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices
• H01L 29/10 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les formes, les dimensions relatives, ou les dispositions des régions semi-conductrices avec des régions semi-conductrices connectées à une électrode ne transportant pas le courant à redresser, amplifier ou commuter, cette électrode faisant partie d'un dispositif à semi-conducteur qui comporte trois électrodes ou plus
• H01L 29/40 - Electrodes
• H01L 29/78 - Transistors à effet de champ l'effet de champ étant produit par une porte isolée
• H01L 29/868 - Diodes PIN
• H01L 29/16 - Corps semi-conducteurs caractérisés par les matériaux dont ils sont constitués comprenant, mis à part les matériaux de dopage ou autres impuretés, seulement des éléments du groupe IV de la classification périodique, sous forme non combinée
• H01L 29/872 - Diodes Schottky
• H02M 7/5387 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant continu en une puissance de sortie en courant alternatif sans possibilité de réversibilité par convertisseurs statiques utilisant des tubes à décharge avec électrode de commande ou des dispositifs à semi-conducteurs avec électrode de commande utilisant des dispositifs du type triode ou transistor exigeant l'application continue d'un signal de commande utilisant uniquement des dispositifs à semi-conducteurs, p.ex. onduleurs à impulsions à un seul commutateur dans une configuration en pont
• H02M 3/156 - Transformation d'une puissance d'entrée en courant continu en une puissance de sortie en courant continu sans transformation intermédiaire en courant alternatif par convertisseurs statiques utilisant des tubes à décharge avec électrode de commande ou des dispositifs à semi-conducteurs avec électrode de commande utilisant des dispositifs du type triode ou transistor exigeant l'application continue d'un signal de commande utilisant uniquement des dispositifs à semi-conducteurs avec commande automatique de la tension ou du courant de sortie, p.ex. régulateurs à commutation